[发明专利]显示面板、测试电路及显示面板的触控测试方法有效
申请号: | 202110701715.X | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113434052B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 吕品高 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044;G09F9/30;G09F9/33;H01L27/32 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 娜拉 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 测试 电路 方法 | ||
1.一种显示面板,其特征在于,包括成品区和设置于所述成品区外侧的切割区,所述成品区包括显示区和非显示区,所述显示面板包括:
基板;
驱动器件层,在所述基板的一侧、设置于所述显示区;
发光器件层,在所述驱动器件层背向所述基板的一侧、设置于所述显示区,所述发光器件层包括阴极和阴极走线,所述阴极设置于所述显示区,所述阴极走线一端与所述阴极连接、另一端从所述非显示区延伸至所述切割区;
触控层,设置于所述发光器件层背向所述驱动器件层的一侧且与所述发光器件层绝缘设置,所述触控层包括触控电极和触控走线,所述触控电极设置于所述显示区,所述触控走线一端与所述触控电极连接、另一端从所述非显示区延伸至所述切割区;
测试引脚组,设置于所述切割区,所述测试引脚组包括阴极测试引脚和触控测试引脚,所述阴极测试引脚与所述阴极走线连接,所述触控测试引脚与所述触控走线一对一连接,以在所述触控电极与所述阴极之间形成临时测试电容,通过测试所述临时测试电容的电容值确定每个触控电极和与之连接的触控走线的状态。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述切割区的所述触控走线的分布密度小于所述非显示区的所述触控走线的分布密度。
3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述触控走线在所述非显示区形成触控绑定引脚,所述触控测试引脚的尺寸大于所述触控绑定引脚,且相邻两个所述触控测试引脚之间的间隔大于相邻两个所述触控绑定引脚之间的间隔。
4.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述阴极走线在所述非显示区形成阴极绑定引脚,所述阴极测试引脚的尺寸大于所述阴极绑定引脚。
5.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,任一相邻两个所述触控测试引脚之间的间隔大于0.1mm;所述触控测试引脚和所述阴极测试引脚呈矩形,所述触控测试引脚和所述阴极测试引脚的长度大于或等于0.3mm,宽度大于或等于0.1mm。
6.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述触控测试引脚设置于所述基板朝向所述驱动器件层的一侧表面,所述触控走线包括第一触控段和第二触控段,所述第一触控段与所述触控电极连接且与所述触控电极同层设置,所述第二触控段与所述触控测试引脚连接且与所述触控测试引脚同层设置,所述第一触控段远离所述触控电极的一端与所述第二触控段远离所述触控测试引脚的一端均位于所述非显示区且搭接连接。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第一触控段远离所述触控电极的一端在所述非显示区形成第一搭接引脚,所述第二触控段远离所述触控测试引脚的一端在所述非显示区形成第二搭接引脚,所述第一搭接引脚和所述第二搭接引脚一对一连接。
8.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板还包括:
封装盖板,在所述发光器件层背向所述基板的一侧、设置于所述成品区,所述触控电极以及所述触控走线的所述第一触控段形成于所述封装盖板朝向所述发光器件层的一侧表面。
9.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,所述发光器件层与所述触控层之间设置有绝缘间隙;和/或
所述显示面板还包括:
绝缘层,设置于所述发光器件层与所述触控层之间。
10.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述阴极测试引脚设置于所述基板朝向所述驱动器件层的一侧表面,所述阴极走线包括第一阴极段和第二阴极段,所述第一阴极段与所述阴极连接且与所述阴极同层设置,所述第二阴极段与所述阴极测试引脚连接且与所述阴极测试引脚同层设置,所述第一阴极段和所述第二阴极段过孔连接。
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