[发明专利]显示面板、测试电路及显示面板的触控测试方法

说明书

本申请公开了一种显示面板、测试电路及显示面板的触控测试方法，显示面板包括发光器件层、触控层以及设置于切割区的测试引脚组，发光器件层包括阴极和阴极走线，触控层包括触控电极和触控走线，阴极走线一端与阴极连接、另一端从非显示区延伸至切割区；触控走线一端与触控电极连接、另一端从非显示区延伸至切割区；测试引脚组包括阴极测试引脚和触控测试引脚，阴极测试引脚与阴极走线连接，触控测试引脚与触控走线一对一连接，以在触控电极与阴极之间形成临时测试电容，通过测试临时测试电容的电容值确定每个触控电极和与之连接的触控走线的状态。本申请能够通过加载驱动电路对显示面板的触控电极和触控走线进行有效测试。

技术领域

本申请涉及触控技术领域，具体涉及一种显示面板、测试电路及显示面板的触控测试方法。

背景技术

当前，具有触控功能的显示面板被广泛应用于手机、可穿戴设备等显示设备中，以使显示设备能够通过简单便利的方式实现人机交互功能。随着人们对显示面板性能要求的提高，显示面板多采用触控与显示驱动器集成(Touch Display Driver Integration，TDDI)方案，在使用TDDI方案的显示面板中，需要通过触控走线将触控信号引入显示屏体再通过引线将信号引入驱动芯片。

由于生产工艺等因素的影响，显示面板可能存在因触控电极或触控走线缺损、断裂等导致的触控不良问题，因此需要在显示面板绑定驱动芯片前，对触控电极以及触控走线进行测试，以避免已绑定的芯片和电路板等物料则被浪费掉，增加不必要的生产成本。因此，提供一种能够对触控电极和触控走线进行准确测试的测试方案，具有重要价值。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板、测试电路及显示面板的触控测试方法。

第一方面，本申请实施例提供一种显示面板，包括成品区和设置于所述成品区外侧的切割区，所述成品区包括显示区和非显示区，所述显示面板包括：基板；驱动器件层，在所述基板的一侧、设置于所述显示区；发光器件层，在所述驱动器件层背向所述基板的一侧、设置于所述显示区，所述发光器件层包括阴极和阴极走线，所述阴极设置于所述显示区对应设置，所述阴极走线一端与所述阴极连接、另一端从所述非显示区延伸至所述切割区；触控层，设置于所述发光器件层背向所述驱动器件层的一侧且与所述发光器件层绝缘设置，所述触控层包括触控电极和触控走线，所述触控电极设置于所述显示区，所述触控走线一端与所述触控电极连接、另一端从所述非显示区延伸至所述切割区；测试引脚组，设置于所述切割区，所述测试引脚组包括阴极测试引脚和触控测试引脚，所述阴极测试引脚与所述阴极走线连接，所述触控测试引脚与所述触控走线一对一连接，以在所述触控电极与所述阴极之间形成临时测试电容，通过测试所述临时测试电容的电容值确定每个触控电极和与之连接的触控走线的状态。

根据本申请第一方面的前述实施方式，所述切割区的所述触控走线的分布密度小于所述非显示区的所述触控走线的分布密度。

根据本申请第一方面的前述任一实施方式，所述触控走线在所述非显示区形成触控绑定引脚，所述触控测试引脚的尺寸大于所述触控绑定引脚，且相邻两个所述触控测试引脚之间的间隔大于相邻两个所述触控绑定引脚之间的间隔。

根据本申请第一方面的前述任一实施方式，所述阴极走线在所述非显示区形成阴极绑定引脚，所述阴极测试引脚的尺寸大于所述阴极绑定引脚。

根据本申请第一方面的前述任一实施方式，任一相邻两个所述触控测试引脚之间的间隔大于0.1mm；所述触控测试引脚和所述阴极测试引脚呈矩形，所述触控测试引脚和所述阴极测试引脚的长度大于或等于0.3mm，宽度大于或等于0.1mm。

根据本申请第一方面的前述任一实施方式，所述触控测试引脚设置于所述基板朝向所述驱动器件层的一侧表面，所述触控走线包括第一触控段和第二触控段，所述第一触控段与所述触控电极连接且与所述触控电极同层设置，所述第二触控段与所述触控测试引脚连接且与所述触控测试引脚同层设置，所述第一触控段远离所述触控电极的一端与所述第二触控段远离所述触控测试引脚的一端均位于所述非显示区且搭接连接。