[发明专利]电解质膜的短路检查方法和电解质膜的短路检查装置

权利要求书

1.一种电解质膜的短路检查方法，通过对具有由固体高分子构成的电解质膜(16)的电解质膜部件(12)通电，来检查在所述电解质膜中是否存在短路部位(S)，该电解质膜的短路检查方法的特征在于，

包括：

通电工序，经由配置在所述电解质膜部件的两个面上的一组测量端子部(36、40)对沿面方向分割该电解质膜部件而得到的多个分割部位(72)通电；

获取工序，对位置彼此不同的多个限定范围的每一个进行获取所述限定范围(74)的通电状态的处理，其中，所述限定范围包括在比所述多个分割部位的整体范围小的范围内彼此相邻的分割部位；和

判定工序，根据在所述获取工序中获取的多个所述限定范围的所述通电状态，来判定在所述电解质膜中是否存在所述短路部位。

2.根据权利要求1所述的电解质膜的短路检查方法，其特征在于，

多个所述限定范围中最接近的限定范围彼此位于在所述面方向上错开所述多个分割部位中的一个所述分割部位的距离的位置。

3.根据权利要求2所述的电解质膜的短路检查方法，其特征在于，

在所述获取工序中多次进行确定工序，所述确定工序为：确定多个所述限定范围中的一个，并且获取所确定的所述限定范围的通电状态，

在所述确定工序中，确定位于使上次所确定的所述限定范围在所述面方向上移动了所述多个分割部位中的一个所述分割部位的距离后的位置的限定范围。

4.根据权利要求3所述的电解质膜的短路检查方法，其特征在于，

在所述确定工序中，获取所确定的所述限定范围所包含的所述多个分割部位各自的电压值，

所述获取工序包括算出合成电压值的合成电压算出工序，其中，所述合成电压值是合成多个所述限定范围各自所包含的所述多个分割部位的电压值而得到的，

在所述判定工序中，根据所述合成电压值来判定在所述电解质膜中是否存在所述短路部位。

5.根据权利要求4所述的电解质膜的短路检查方法，其特征在于，

所述获取工序包括合成电阻算出工序，在该合成电阻算出工序中，根据所述合成电压值来算出多个所述限定范围各自的合成电阻值，

在所述判定工序中，在多个所述限定范围的所述合成电阻值中最低的合成电阻值比电阻阈值(R0)低的情况下，判定为在具有所述最低的合成电阻值的所述限定范围的中心附近存在所述短路部位。

6.根据权利要求4所述的电解质膜的短路检查方法，其特征在于，

所述获取工序包括合成电阻算出工序，在该合成电阻算出工序中，根据所述合成电压值来算出多个所述限定范围各自的合成电阻值，

在所述判定工序中，判定为在具有比电阻阈值低的合成电阻值的限定范围中存在所述短路部位。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的电解质膜的短路检查方法，其特征在于，

所述限定范围的大小根据如下这样得到的修正电压值来设定，在经由所述一组测量端子部对所述电解质膜部件通电时，算出所述多个分割部位各自的电压值中的在本底电压阈值(V0)以下的电压值的平均值作为本底电压，并从所述多个分割部位各自的所述电压值中减去所述本底电压而得到所述修正电压值。

8.根据权利要求7所述的电解质膜的短路检查方法，其特征在于，

所述限定范围的大小被设定为以下范围：在测量位于预先确定的短路部位的周边的所述多个分割部位各自的电压值，并一边增加用于进行合成的所述电压值的数量一边算出合成电压值的情况下，所述合成电压值的变化量成为规定值以下时的所述多个分割部位的范围。

9.一种电解质膜的短路检查装置(10)，通过对具有由固体高分子构成的电解质膜的电解质膜部件通电，来检查在所述电解质膜中是否存在短路部位，该电解质膜的短路检查装置的特征在于，

具有第1测量端子部(36)、第2测量端子部(40)、电源(44)、获取部(60)和判定部(68)，其中，

所述第1测量端子部和所述第2测量端子部用于夹持所述电解质膜部件；

所述电源用于对所述第1测量端子部和所述第2测量端子部之间进行通电；

所述获取部获取所述电解质膜部件的通电状态；

所述判定部根据由所述获取部所获取的通电状态来判定在所述电解质膜中是否存在所述短路部位，

所述第1测量端子部以彼此电绝缘的状态配置有多个，

所述获取部获取限定范围的通电状态，其中，所述限定范围包括在比所述电解质膜部件中的与多个所述第1测量端子部相向的多个分割部位的整体范围小的范围内彼此相邻的分割部位。