[发明专利]基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202110706053.5 申请日: 2021-06-24
公开(公告)号: CN113532801A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 邓尧;闫超;袁良垲;付强;王正伟;刘志刚 申请(专利权)人: 四川九洲电器集团有限责任公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01J3/28
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 庞许倩
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 基于 分布 位数 光谱 相机 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法,其特征在于,包括:

获取高/多光谱相机拍摄均匀反射率板得到的高/多光谱图像,确定每一波段图像行/列号与相机像元的对应关系;

依次计算所述高/多光谱图像每一波段的行/列灰度统计量,获取所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数,计算所述每一波段的行/列灰度统计量的分布函数的分位数和分位距;

根据每一波段所述分布函数的分位数和分位距,设定判定区间,根据所述判定区间判定所述每一波段的行/列灰度统计量中异常值的行/列号;

根据每一波段所述异常值的行/列号,通过所述对应关系,确定相机异常像元位置,直至获取所有波段对应的相机异常像元。

2.根据权利要求1所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法,其特征在于,包括:

高/多光谱相机按列扫描得到所述高/多光谱图像时,确定每一波段图像行号与相机像元的对应关系;

依次计算所述高/多光谱图像每一波段的行灰度统计量,获取所述每一波段的行灰度统计量的分布函数,计算所述每一波段的行灰度统计量的分布函数的分位数和分位距;

根据每一波段所述行灰度统计量分布函数的分位数和分位距,设定判定区间,根据所述判定区间判定所述每一波段的行灰度统计量中异常值的行号;

根据每一波段所述异常值的行号,通过所述对应关系,确定相机异常像元位置,直至获取所有波段对应的相机异常像元。

3.根据权利要求2所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法,其特征在于,包括:

所述每一波段的行灰度统计量,表达为:

其中,为所述高/多光谱图像第p光谱波段中第i行像素灰度均值,n为所述高/多光谱图像列数,为所述高/多光谱图像中第i行第j列像素灰度值。

4.根据权利要求3所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法,其特征在于,

根据所述每一波段的行灰度统计量的分布函数,计算得到第p光谱波段行灰度统计量的第一四分位数第p光谱波段行灰度统计量的第三四分位数所述判定区间中,正常区间表达为:

其中,为第p光谱波段行灰度统计量的四分位距;

当第p光谱波段的行灰度统计量或时,与第p光谱波段图像行号对应的相机像元异常。

5.根据权利要求1所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法,其特征在于,包括:

高/多光谱相机按行扫描得到所述高/多光谱图像时,确定每一波段图像列号与相机像元的对应关系;

依次计算所述高/多光谱图像每一波段的列灰度统计量,获取所述每一波段的列灰度统计量的分布函数,计算所述每一波段的列灰度统计量的分布函数的分位数和分位距;

根据每一波段所述列灰度统计量分布函数的分位数和分位距,设定判定区间,根据所述判定区间判定所述每一波段的列灰度统计量中异常值的列号;

根据每一波段所述异常值的列号,通过所述对应关系,确定相机异常像元位置,直至获取所有波段对应的相机异常像元。

6.根据权利要求5所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法,其特征在于,包括:

所述每一波段的列灰度统计量,表达为:

其中,为所述高/多光谱图像第p光谱波段中第j行像素灰度均值,m为所述高/多光谱图像列数,为所述高/多光谱图像中第i行第j列像素灰度值。

7.根据权利要求6所述的基于分布分位数的高/多光谱相机坏点检测方法,其特征在于,包括:

根据所述每一波段的列灰度统计量的分布函数,计算得到第p光谱波段列灰度统计量的第一四分位数第p光谱波段列灰度统计量的第三四分位数所述判定区间中,正常区间表达为

其中,为第p光谱波段列灰度统计量的四分位距;

当第p光谱波段的列灰度统计量或时,与第p光谱波段图像列号对应的相机像元异常。

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