[发明专利]晶体半成品外观缺陷选别机

权利要求书

1.晶体半成品外观缺陷选别机，包括底座(10)，其特征在于：所述底座(10)顶端表面固定安装有视觉检测机构(20)、载盘搬运机构(30)、下料组件(40)、上料组件(50)、不良品放置单元(60)、不良品挑选单元(70)和待检测区(80)，所述视觉检测机构(20)位于底座(10)表面一端，所述下料组件(40)、上料组件(50)位于底座(10)表面另一端，所述不良品放置单元(60)、不良品挑选单元(70)和待检测区(80)位于视觉检测机构(20)和下料组件(40)之间，所述载盘搬运机构(30)位于底座(10)表面一侧。

2.根据权利要求1所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述视觉检测机构(20)包括升降滑台支架(21)，所述升降滑台支架(21)顶端一侧通过升降滑台联接板固定安装有升降滑台(23)，所述升降滑台(23)滑动端通过镜头联接板固定安装有镜头(25)，所述镜头(25)顶端固定安装有相机(24)，所述镜头(25)底端通过光源联接板固定安装有光源(26)。

3.根据权利要求2所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述升降滑台支架(21)底端通过X轴运动模块固定安装有第一X轴运动模块(28)，所述第一X轴运动模块(28)移动端通过Y轴运动模块联接板固定安装有Y轴运动模块(27)，所述Y轴运动模块(27)移动端固定安装有载盘吸附板(22)，所述载盘吸附板(22)顶端表面固定安装有吸盘(29)，且吸盘(29)设有若干个。

4.根据权利要求1所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述载盘搬运机构(30)包括支撑架(31)，所述支撑架(31)一侧表面通过X轴运动模块联接板固定安装有第二X轴运动模块(32)，所述第二X轴运动模块(32)移动端通过Z轴运动模块联接板固定安装有Z轴运动模块(33)，所述Z轴运动模块(33)移动端固定安装有夹爪固定板(34)，所述夹爪固定板(34)底端固定安装有夹爪(35)，所述夹爪(35)底端固定安装有导套固定板(38)，所述导套固定板(38)底端固定安装有导柱(39)，所述导柱(39)底端固定安装有晶片吸嘴(391)，所述导柱(39)外部固定安装有导柱固定板(36)，所述导套固定板(38)与导柱(39)之间固定安装有弹簧(37)。

5.根据权利要求1所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述下料组件(40)包括料架底板(41)和载盘(42)，所述载盘(42)设有若干个，所述料架底板(41)顶端两侧通过螺丝固定安装有料架侧板(43)，两块所述料架侧板(43)一侧表面通过螺丝固定安装有载盘护板(44)。

6.根据权利要求1所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述不良品放置单元(60)包括运动模块联接板(67)顶端固定安装有运动模块(61)，所述运动模块(61)移动端固定安装有夹爪联接板(66)，所述夹爪联接板(66)顶端表面靠近中心处固定安装有固定夹爪(63)，所述固定夹爪(63)顶端固定安装有定位轴支撑板(62)，所述定位轴支撑板(62)顶端表面固定安装有载盘定位轴(64)，所述夹爪联接板(66)顶端靠近边沿处固定安装有载盘支撑板(65)；

其中，所述运动模块联接板(67)与底座(10)之间固定连接。

7.根据权利要求4所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述支撑架(31)底端表面固定安装有运动模块支架(311)，且运动模块支架(311)设有四组，所述运动模块支架(311)底端表面固定安装有支架底板(312)。

8.根据权利要求1所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述料架底板(41)底端表面通过螺丝固定安装有定位轴B，且定位轴B设有三组，三组所述定位轴B外部固定安装有定位套B，所述料架底板底端表面通过螺丝固定安装有定位轴A，所述定位轴A外部固定安装有定位套A。

9.根据权利要求1所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述不良品放置单元(60)、不良品挑选单元(70)和待检测区(80)结构一致。

10.根据权利要求1所述的晶体半成品外观缺陷选别机，其特征在于：所述下料组件(40)和上料组件(50)结构一致。