[发明专利]晶体半成品外观缺陷选别机

说明书

本发明公开了晶体半成品外观缺陷选别机，包括底座，所述底座顶端表面固定安装有视觉检测机构、载盘搬运机构、下料组件、上料组件、不良品放置单元、不良品挑选单元和待检测区，所述视觉检测机构位于底座表面一端，所述下料组件、上料组件位于底座表面另一端；本发明结构简单，操作方便快捷，制作成本低且性能安全可靠，自动化程度高，代替了传统人工检测的不足，能够有效降低作业人员的工作强度，能够有效提高生产效率，并且能满足生产产能，而且现场不会出现混料的情况，使用视觉智能检测取代作业员检测，对外观缺陷与不良挑选判断标准不会存在差异化，从而能够提高检测的精准性。

技术领域

本发明涉及晶体检测技术领域，具体为晶体半成品外观缺陷选别机。

背景技术

晶片是LED最主要的原物料之一，是LED的发光部件，LED最核心的部分，晶片的好坏将直接决定LED的性能，晶片是由是由Ⅲ和Ⅴ族复合半导体物质构成，在LED封装时，晶片来料呈整齐排列在晶片膜上，一般在晶片的生产加工中，需要对晶片的外观缺陷与不良品进行挑选，目前对晶片的外观检测都是由作业人员放置到工作台上通过高倍显微镜直接观察后将不符合作业标准的产品挑选。

但是，这种挑选方法存在以下不足：

1、作业人员工作形成职业病，由于作业人员使用显微镜是直接从物镜中看晶片并大部分时间处于较暗环境下对眼睛伤害非常大；(眼睛长时间看同一角度、同一距离的物体，而且不进行调节或者休息，会导致睫状体疲劳、晶状体变厚或变薄，从而导致视力下降)；

2、作业人员对外观缺陷与不良挑选判断标准会存在差异化，由于人眼易疲劳，对最终作业标准的合理性形成较大的不确定性；

3、作业人员工作效率过低，无法满足生产产能，且现场容易混料。

发明内容

本发明的目的在于提供晶体半成品外观缺陷选别机，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：晶体半成品外观缺陷选别机，包括底座，所述底座顶端表面固定安装有视觉检测机构、载盘搬运机构、下料组件、上料组件、不良品放置单元、不良品挑选单元和待检测区，所述视觉检测机构位于底座表面一端，所述下料组件、上料组件位于底座表面另一端，所述不良品放置单元、不良品挑选单元和待检测区位于视觉检测机构和下料组件之间，所述载盘搬运机构位于底座表面一侧。

优选的，所述视觉检测机构包括升降滑台支架，所述升降滑台支架顶端一侧通过升降滑台联接板固定安装有升降滑台，所述升降滑台滑动端通过镜头联接板固定安装有镜头，所述镜头顶端固定安装有相机，所述镜头底端通过光源联接板固定安装有光源。

优选的，所述升降滑台支架底端通过X轴运动模块固定安装有第一X轴运动模块，所述第一X轴运动模块移动端通过Y轴运动模块联接板固定安装有Y轴运动模块，所述Y轴运动模块移动端固定安装有载盘吸附板，所述载盘吸附板顶端表面固定安装有吸盘，且吸盘设有若干个。

优选的，所述载盘搬运机构包括支撑架，所述支撑架一侧表面通过X轴运动模块联接板固定安装有第二X轴运动模块，所述第二X轴运动模块移动端通过Z轴运动模块联接板固定安装有Z轴运动模块，所述Z轴运动模块移动端固定安装有夹爪固定板，所述夹爪固定板底端固定安装有夹爪，所述夹爪底端固定安装有导套固定板，所述导套固定板底端固定安装有导柱，所述导柱底端固定安装有晶片吸嘴，所述导柱外部固定安装有导柱固定板，所述导套固定板与导柱之间固定安装有弹簧。

优选的，所述下料组件包括料架底板和载盘，所述载盘设有若干个，所述料架底板顶端两侧通过螺丝固定安装有料架侧板，两块所述料架侧板一侧表面通过螺丝固定安装有载盘护板。