[发明专利]基于光纤取样的强光取样装置及其制备方法

权利要求书

1.基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，包括防护取样基板(1)、安装基座(3)、光纤棒(2)，所述防护取样基板(1)阵列设置有若干个第一过孔(11)，每个第一过孔(11)匹配一个安装基座(3)，所述安装基座(3)上开设有第二过孔，所述光纤棒(2)固定设置在第一过孔(11)和第二过孔内。

2.根据权利要求1所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，经过光学抛光后的防护取样基板(1)迎光面采用化学或真空镀的方式设置有镀金膜。

3.根据权利要求2所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，所述镀金膜上镀有保护膜。

4.根据权利要求1所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，所述第一过孔(11)包括依次连续同轴设置的

取样部(111)，用于放置光纤棒(2)的端部获取光束；

第一导槽部，方便光纤棒(2)插入取样部(111)和对安装基座(3)的限位；

第一固定部(114)，与安装基座(3)中的第二固定部(301)外侧壁固定连接。

5.根据权利要求4所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，所述第一导槽部包括依次设置的第一喇叭段(112)、第一阶梯段(113)，所述第一喇叭段(112)方便光纤棒(2)插入取样部(111)中，所述第一阶梯段(113)限制安装基座(3)进入到第一过孔(11)的位置。

6.根据权利要求1所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，所述光纤棒(2)为2层或3层全玻结构，所述光纤棒(2)为全玻石英光纤棒(2)，光纤棒(2)的两端边缘为进行光学抛光后的倒角。

7.根据权利要求1所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，所述安装基座(3)上的过孔包括依次同轴设置的

第二固定部(301)，外侧壁上设置有与第一过孔(11)中的第一固定部(114)匹配的连接固定结构；

第二导槽部(302)，方便光纤棒(2)插入光纤尾部安置部中；

光纤尾部安置部，用于放置光纤的尾部。

8.根据权利要求2所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，在安装基座(3)内放置光纤棒(2)后设置有固定胶，所述固定胶从第二固定部(301)的入口(3011)处注入，所述固定胶的折射率低于包层材料的折射率。

9.根据权利要求7所述的基于光纤取样的强光取样装置，其特征在于，所述第二固定部(301)的内壁还设置有凹凸结构。

10.根据权利要求1-9任意一项所述的基于光纤取样的强光取样装置的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、根据被测激光系统的参数确定防护取样基板(1)的直径、厚度、取样空间分辨率及取样孔尺寸，并确定光纤棒(2)的尺寸；

S2、对防护取样基板(1)进行加工、抛光，然后阵列打第一过孔(11)，对第一过孔(11)进行镀膜；对光纤棒(2)和安装基座(3)进行加工；

S3、装配光纤棒(2)与安装基座(3)形成光纤取样组件；

S4、将光纤取样组件与防护取样基板(1)进行组装。