[发明专利]基于光纤取样的强光取样装置及其制备方法

说明书

本发明属于激光系统的技术领域，尤其涉及基于光纤取样的强光取样装置及其制备方法。装置包括防护取样基板、安装基座、光纤棒，所述防护取样基板阵列设置有若干个第一过孔，每个第一过孔匹配一个安装基座，所述安装基座上开设有第二过孔，所述光纤棒固定设置在第一过孔和第二过孔内。本发明中的防护取样基板同时具有宽光谱响应特性、大角度宽容性、高损伤阈值的激光取样，能够解决激光系统特征参数测量中对于测量设备的高兼容性要求。

技术领域

本发明属于激光系统的技术领域，尤其涉及基于光纤取样的强光取样装置及其制备方法。

背景技术

近年来，激光技术获得了迅猛发展，激光系统已在多领域获得了广泛的应用。随着应用的深入，激光光斑特征参数的准确测量成为亟待解决的问题。

获取激光系统特征参数常用的方法有CCD相机成像法和阵列探测法：CCD相机成像法最大的优势体现在可以高分辨率地实时成像，但当拍摄大面积光斑时，所需物距过长，造成系统不易集成，同时图像校正技术也较为复杂，对精度有一定的影响。该方法多用于系统的静态测量，在动态飞行平台的应用受限；阵列探测法依靠空间衰减取样实现对光斑的空间分布测量，布局较为紧凑，体积小，而且对于大面积光斑，可通过单元数的增加来增大探测面积，付出的体积、重量代价较小，较适合飞行平台动态测量使用。

但是，就阵列测量法采用的技术而言，目前主要存在以下几个技术问题：第一，光谱响应一致性差，特别是对于采用高反膜进行取样的测量方式，对于光谱合成激光系统测量有一定的影响；第二，角度兼容性差，通常只能兼容正负几度的入射角范围，更大的角度需要依靠软件进行校正，在一定程度上对测量精度有影响；第三，功率耐受差，不能够满足大功率测量的需求。根据调研，以上三个技术难点，若单独解决其中一个，可以通过已有技术途径去实现；若要在一台测量设备上解决以上所有技术难题，具有较大的技术难度。

发明内容

为了解决背景技术中的问题，为此，本发明提出了基于光纤取样的强光取样装置及其制备方法，具体发明如下：

基于光纤取样的强光取样装置，包括防护取样基板、安装基座、光纤棒，所述防护取样基板阵列设置有若干个第一过孔，每个第一过孔匹配一个安装基座，所述安装基座上开设有第二过孔，所述光纤棒固定设置在第一过孔和第二过孔内。

具体地说，经过光学抛光后的防护取样基板迎光面采用化学或真空镀的方式设置有镀金膜。

具体地说，所述镀金膜上镀有保护膜。

具体地说，所述第一过孔包括依次连续同轴设置的

取样部，用于放置光纤棒的端部获取光束；

第一导槽部，方便光纤棒插入取样部和对安装基座的限位；

第一固定部，与安装基座中的第二固定部外侧壁固定连接。

具体地说，所述第一导槽部包括依次设置的第一喇叭段、第一阶梯段，所述第一喇叭段方便光纤棒插入取样部中，所述第一阶梯段限制安装基座进入到第一过孔的位置。

具体地说，所述光纤棒为2层或3层全玻结构，所述光纤棒为全玻石英光纤棒，光纤棒的两端边缘为进行光学抛光后的倒角。

具体地说，所述安装基座上的过孔包括依次同轴设置的

第二固定部，外侧壁上设置有与第一过孔中的第一固定部匹配的连接固定结构；

第二导槽部，方便光纤棒插入光纤尾部安置部中；

光纤尾部安置部，用于放置光纤的尾部。

具体地说，在安装基座内放置光纤棒后设置有固定胶，所述固定胶从第二固定部的入口处注入，所述固定胶的折射率低于包层材料的折射率。

具体地说，所述第二固定部的内壁还设置有凹凸结构。