[发明专利]隔离结构的制备方法、高压发光器件及其制造方法在审
申请号: | 202110713259.0 | 申请日: | 2021-06-25 |
公开(公告)号: | CN113594084A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 王春;裴向辉;邵明镜;马爽;王亚洲;闫春辉 | 申请(专利权)人: | 深圳第三代半导体研究院 |
主分类号: | H01L21/76 | 分类号: | H01L21/76;H01L33/00;H01L33/48;H01L33/44;H01L27/15 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 李庆波 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 隔离 结构 制备 方法 高压 发光 器件 及其 制造 | ||
本申请涉及半导体技术领域,特别是涉及一种用于高压发光器件的隔离结构的制备方法、高压发光器件及其制造方法,该用于高压发光器件的隔离结构的制备方法,包括:在衬底上形成线条型绝缘层;以线条型绝缘层为掩膜,对衬底进行蚀刻,以形成n个线条型隔离墙以及n‑1个沟槽,得到隔离结构,其中,相邻两个沟槽由线条型隔离墙隔开。通过上述方式,本申请通过衬底上的线条型隔离墙隔离各发光外延层,避免因蚀刻有源层造成有源层面积损失,提升有源层的利用率。
技术领域
本申请涉及半导体技术领域,特别是涉及一种用于高压发光器件的隔离结构的制备方法、高压发光器件及其制造方法。
背景技术
近几年由于技术与效率的进步,LED应用越来越广。随着LED应用的升级,市场对于LED的需求朝向更大功率及更高亮度,即高功率LED方向发展。对于实现高功率LED,目前高压发光二极管的设计成为解决方案之一。
本申请的发明人在长期的研发过程中,发现目前高压发光二极管是通过将多个LED单元串联或串并联结合的方式来实现,所用的LED单元为分立器件,或者,通过单片集成的方式在同一衬底上制作相互分离的LED单元。对于单片集成方案,为了实现GaN基LED单元之间的隔离,需在GaN层深蚀刻出沟道以分隔各个LED单元的外延结构,而串联各个LED单元的金属连接线需要穿越沟道,为了保证串联时的金属连接线不发生断裂,蚀刻角度一般都会控制在50°以下,这就导致各LED单元的有源层蚀刻面积过大,利用率低,同时,被蚀刻的表面有大量的非辐射复合中心严重制约其光学性能的提高。
发明内容
本申请提供一种用于高压发光器件的隔离结构的制备方法、高压发光器件及其制造方法,以解决现有技术中存在的技术问题。
为解决上述技术问题,本申请采用的一个技术方案是:提供一种用于高压发光器件的隔离结构的制备方法,包括:在衬底上形成线条型绝缘层;以线条型绝缘层为掩膜,对衬底进行蚀刻,以形成n个线条型隔离墙以及n-1个沟槽,得到隔离结构,其中,相邻两个沟槽由线条型隔离墙隔开。
为解决上述技术问题,本申请采用的另一个技术方案是:提供一种高压发光器件的制造方法,包括:提供一隔离结构,隔离结构由前述的方法制备得到;在n-1个沟槽上分别生长n-1个发光外延层,其中,发光外延层包括层叠设置的第一半导体层、有源层以及第二半导体层,发光外延层在第一半导体层朝向第二半导体层一侧形成有台面结构,且使靠近线条型隔离墙一侧的第一半导体层的部分上表面露出;形成n-1个绝缘介质层,其中,第1个绝缘介质层覆盖第1个第二半导体背离衬底一侧的局部区域,第i个绝缘介质层覆盖第i个第二半导体背离衬底一侧的局部区域、相邻两个发光外延层之间的第i个线条型隔离墙、以及靠近第i个线条型隔离墙一侧的第i-1个第一半导体层的局部上表面;形成n-1个电流扩散层,其中,第1个电流扩散层覆盖第1个绝缘介质层背离第二半导体的一侧,第i个电流扩散层覆盖第i个绝缘介质层背离第二半导体的一侧以及第i个第二半导体背离衬底一侧的局部区域;形成n-2个互联金属层,其中,第i-1个互联电极层覆盖第i-1个第一半导体层的局部上表面、第i个绝缘介质层以及第i个电流扩散层背离绝缘介质层的一侧,以使由线条型隔离墙隔开的相邻两个发光外延层彼此电性串联;在第1个电流扩散层背离绝缘介质层的一侧形成第一导电类型电极,在第n个第一半导体层的局部上表面形成第二导电类型电极,得到高压发光器件;其中,2≤i≤n-1,且i、n均为整数。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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