[发明专利]像素电路的设计方法、装置、控制器及存储介质在审
申请号: | 202110717291.6 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN113486621A | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 刘司洋;王醉 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G06F30/392 | 分类号: | G06F30/392;G06T7/60 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 王红红 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 电路 设计 方法 装置 控制器 存储 介质 | ||
1.一种像素电路的设计方法,其特征在于,包括:
获取目标面板的布局信息,所述布局信息包括所述目标面板的尺寸信息和架构类型标识;
调用标准数据库,所述标准数据库内存储有标准面板的尺寸信息和多个标准器件的特征标签信息;
根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述标准器件的特征标签信息,基于所述目标面板的尺寸信息,确定至少一目标器件的特征标签信息;
根据至少一所述目标器件的特征标签信息和所述架构类型标识,确定目标像素电路;
根据所述目标面板的尺寸信息和所述目标像素电路,生成目标像素电路矩阵,所述目标像素电路矩阵包括多个所述目标像素电路。
2.根据权利要求1所述的像素电路的设计方法,其特征在于,所述根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述标准器件的特征标签信息,基于所述目标面板的尺寸信息,确定至少一目标器件的特征标签信息的步骤,包括:
根据所述架构类型标识,从多个所述标准器件的特征标签信息中确定至少一参考器件的特征标签信息;
根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述参考器件的特征标签信息,基于所述目标面板的尺寸信息,确定至少一所述目标器件的特征标签信息。
3.根据权利要求2所述的像素电路的设计方法,其特征在于,所述标准器件的特征标签信息包括所述标准器件的尺寸信息,所述标准器件的尺寸信息包括所述参考器件的尺寸信息,所述目标器件的特征标签信息包括所述目标器件的尺寸信息,所述参考器件的尺寸信息用于确定所述目标器件的尺寸信息。
4.根据权利要求3所述的像素电路的设计方法,其特征在于,所述目标像素电路包括多个所述目标器件,多个所述目标器件包括第一目标器件和第二目标器件;以及
根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述标准器件的特征标签信息,基于所述目标面板的尺寸信息和所述架构类型标识,确定至少一目标器件的特征标签信息的步骤,包括:
根据所述标准面板的尺寸信息和其中一所述参考器件的尺寸信息,基于所述目标面板的尺寸信息,确定所述第一目标器件的尺寸信息;
根据所述第一目标器件的尺寸信息,基于预设规则,确定所述第二目标器件的尺寸信息。
5.根据权利要求1所述的像素电路的设计方法,其特征在于,所述目标像素电路还包括至少一固定器件,所述根据至少一所述目标器件的特征标签信息和所述架构类型标识,确定目标像素电路的步骤,包括:
根据所述架构类型标识,从多个所述标准器件的特征标签信息中确定至少一所述固定器件的特征标签信息;
根据多个所述目标器件的特征标签信息、所述架构类型标识和至少一所述固定器件的特征标签信息,确定所述目标像素电路。
6.一种像素电路的设计装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取目标面板的布局信息,所述布局信息包括所述目标面板的尺寸信息和架构类型标识;
调用模块,用于调用标准数据库,所述标准数据库内存储有标准面板的尺寸信息和多个标准器件的特征标签信息;
第一确定模块,用于根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述标准器件的特征标签信息,基于所述目标面板的尺寸信息和所述架构类型标识,确定至少一目标器件的特征标签信息;
第二确定模块,用于根据至少一所述目标器件的特征标签信息和所述架构类型标识,确定目标像素电路;
生成模块,用于根据所述目标面板的尺寸信息和所述目标像素电路,生成目标像素电路矩阵,所述目标像素电路矩阵包括多个所述目标像素电路。
7.根据权利要求6所述的像素电路的设计装置,其特征在于,所述第一确定模块包括:
第一子确定模块,用于根据所述架构类型标识,从多个所述标准器件的特征标签信息中确定至少一参考器件的特征标签信息;
第二子确定模块,用于根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述参考器件的特征标签信息,基于所述目标面板的尺寸信息,确定至少一所述目标器件的特征标签信息。
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