[发明专利]像素电路的设计方法、装置、控制器及存储介质

说明书

本发明提供了像素电路的设计方法、装置、控制器及存储介质，该方法包括：获取目标面板的尺寸信息和架构类型标识；调用标准数据库中的标准面板的尺寸信息和多个标准器件的特征标签信息，并基于目标面板的尺寸信息和架构类型标识，确定至少一目标器件的特征标签信息，进一步确定目标像素电路；根据目标面板的尺寸信息和目标像素电路，生成包括多个目标像素电路的目标像素电路矩阵。本方法通过根据目标面板的尺寸信息、架构类型标识和标准数据库中的相关信息来确定目标像素电路，避免了通过人工输入数据来确定目标像素电路，提高了显示面板的像素电路的绘制效率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及像素电路的设计方法、装置、控制器及存储介质。

背景技术

目前，显示面板的像素电路的绘制需要人工向系统输入对应的一组参数，系统再根据对应的一组参数以绘制相应的像素电路。这样，当需要绘制不同尺寸的显示面板的像素电路时，要分别向系统输入多个尺寸的显示面板对应的多组参数以进行绘制，导致人工成本极高，同时，人工输入数据速度有限，导致显示面板的像素电路的绘制效率极低。

因此，有必要提供可以降低人工成本和提高像素电路的绘制的效率的像素电路的设计方法、装置、控制器及存储介质。

发明内容

本发明实施例提供像素电路的设计方法、装置、控制器及存储介质，以解决现有的因通过速度有限的人工输入数据的方式来确定不同尺寸的面板中的像素电路，从而导致的显示面板的像素电路的绘制效率极低的技术问题。

本发明实施例提供像素电路的设计方法，包括：

获取目标面板的布局信息，所述布局信息包括所述目标面板的尺寸信息和架构类型标识；

调用标准数据库，所述标准数据库内存储有标准面板的尺寸信息和多个标准器件的特征标签信息；

根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述标准器件的特征标签信息，基于所述目标面板的尺寸信息，确定至少一目标器件的特征标签信息；

根据至少一所述目标器件的特征标签信息和所述架构类型标识，确定目标像素电路；

根据所述目标面板的尺寸信息和所述目标像素电路，生成目标像素电路矩阵，所述目标像素电路矩阵包括多个所述目标像素电路。

在一实施例中，所述根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述标准器件的特征标签信息，基于所述目标面板的尺寸信息，确定至少一目标器件的特征标签信息的步骤，包括：

根据所述架构类型标识，从多个所述标准器件的特征标签信息中确定至少一参考器件的特征标签信息；

根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述参考器件的特征标签信息，基于所述目标面板的尺寸信息，确定至少一所述目标器件的特征标签信息。

在一实施例中，所述标准器件的特征标签信息包括所述标准器件的尺寸信息，所述标准器件的尺寸信息包括所述参考器件的尺寸信息，所述目标器件的特征标签信息包括所述目标器件的尺寸信息，所述参考器件的尺寸信息用于确定所述目标器件的尺寸信息。

在一实施例中，所述目标像素电路包括多个所述目标器件，多个所述目标器件包括第一目标器件和第二目标器件；以及

根据所述标准面板的尺寸信息和至少一所述标准器件的特征标签信息，基于所述目标面板的尺寸信息和所述架构类型标识，确定至少一目标器件的特征标签信息的步骤，包括：

根据所述标准面板的尺寸信息和其中一所述参考器件的尺寸信息，基于所述目标面板的尺寸信息和所述架构类型标识，确定所述第一目标器件的尺寸信息；

根据所述第一目标器件的尺寸信息，基于预设规则，确定所述第二目标器件的尺寸信息。