[发明专利]铜互连结构的清洗方法在审
申请号: | 202110718142.1 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN113506722A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 罗朝以;许力恒;夏汇哲;李松 | 申请(专利权)人: | 华虹半导体(无锡)有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/768 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 214028 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 互连 结构 清洗 方法 | ||
1.一种铜互连结构的清洗方法,其特征在于,所述铜互连结构的清洗方法包括以下步骤:
获取对铜互连结构进行CMP操作后的晶片;
使得所述铜互连结构的表面浸润有用于溶解铜氧化物的有机溶液,位于所述铜互连结构表面的铜氧化物通过与所述有机溶液反应被消融。
2.如权利要求1所述的铜互连结构的清洗方法,其特征在于,所述使得所述铜互连结构的表面浸润有用于溶解铜氧化物的有机溶液,位于所述铜互连结构表面的铜氧化物通过与所述有机溶液反应被消融的步骤,包括:
向所述铜互连结构的表面喷淋用于溶解铜氧化物的有机溶液5秒至10秒的时间;
使得所述有机溶液与附着在所述铜互连结构表面的铜氧化物反应;所述有机溶液包裹被分解后的所述铜氧化物。
3.如权利要求1或2所述的铜互连结构的清洗方法,其特征在于,所述有机溶剂包括正甲基吡咯酮和去离子水的混合液。
4.如权利要求3所述的铜互连结构的清洗方法,其特征在于,所述正甲基吡咯酮和去离子水的混合液浓度为10%至12%。
5.如权利要求1所述的铜互连结构的清洗方法,其特征在于,在所述使得所述铜互连结构的表面浸润有用于溶解铜氧化物的有机溶液,位于所述铜互连结构表面的铜氧化物通过与所述有机溶液反应被消融的步骤完成过后,还进行:
向所述铜互连结构的表面喷淋去离子水,使得所述去离子水,洗去剩余的有机溶液,和所述有机溶液与所述铜氧化物的反应产物。
6.如权利要求5所述的铜互连结构的清洗方法,其特征在于,在所述向所述铜互连结构的表面喷淋去离子水,使得所述去离子水,洗去剩余的有机溶液,和所述有机溶液与所述铜氧化物的反应产物的步骤完成后,还进行:
向所述铜互连结构的表面喷淋用于洗去研磨副产物的清洗液,使得清洗液的流动去除残留在所述铜互连结构表面的研磨副产物。
7.如权利要求6所述的铜互连结构的清洗方法,其特征在于,所述清洗液包括酸性液体。
8.如权利要求6所述的铜互连结构的清洗方法,其特征在于,在所述向所述铜互连结构的表面喷淋用于洗去研磨副产物的清洗液,使得清洗液的流动去除残留在所述铜互连结构表面的研磨副产物的步骤完成后,还进行:
向所述铜互连结构的表面喷淋去离子水,使得所述去离子水,洗去残留的所述清洗液。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华虹半导体(无锡)有限公司,未经华虹半导体(无锡)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110718142.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:晶片去胶方法
- 下一篇:一种变频压缩机及其升频控制方法、系统和空调器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造