[发明专利]用于实测实量的测量方法及激光雷达

权利要求书

1.一种用于实测实量的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

在待测区域的墙体的标高线处设置一反射标记；

通过激光雷达扫描所述待测区域获取待测区域的三维点云数据，三维点云数据包括反射率；

利用三维点云数据生成待测区域的房间模型；

根据反射标记的反射率与墙体的反射率差异查找房间模型中的反射标记的位置以获取标高线在房间模型中的位置。

2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述反射标记为圆形，所述圆形的圆心与所述标高线重合。

3.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述根据反射标记的反射率与墙体的反射率差异查找房间模型中的反射标记的位置以获取标高线在房间模型中的位置，包括：

在所述房建模型中获取待测区域墙体的点云数据点；

查找反射率满足预设条件的点云数据点作为所述反射标记的位置；

在反射标记的位置中获取所述圆形的圆心。

4.如权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述在反射标记的位置中获取所述圆形的圆心，包括：

在反射标记的位置中选取若干影像点；

对于每一影像点，计算以影像点为圆心且以所述圆形的半径的圆形区域中全部点云数据点的反射率的方差；

以所述方差最小的影像点作为所述圆形的圆心。

5.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

对三维数据点云进行分割以获取若干结构件，根据结构件的位置、尺寸及结构件之间的关系获取结构件的语义信息；

根据语义信息获取设置所述反射标记的待测区域墙体的结构件；

在待测区域墙体的结构件上根据反射标记的反射率与墙体的反射率差异查找房间模型中的反射标记的位置。

6.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

获取标高线的竖轴数值；

利用标高线的竖轴数值获取房间模型的净高值，所述净高值等于房间模型中天花板模型的纵轴数值减标高线的竖轴数值再加标高线的额定数值。

7.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

在所述房建模型中获取天花板模型和地面模型；

获取天花板模型的纵轴数值与地面模型的纵轴数值的差值作为房间的极差值。

8.如权利要求7所述的测量方法，其特征在于，所述获取天花板模型的纵轴数值与地面模型的纵轴数值的差值作为房间的极差值，包括：

通过分析天花板模型和地面模型的主成分获取最大最平的区域作为天花板模型和地面模型的零平面；

将天花板模型和地面模型分别划分为若干天花板子模型和地面子模型，天花板子模型与地面子模型一一对应；

计算每一天花板子模型与地面子模型中心点的零平面的距离作为天花板子模型与地面子模型的极差值。

9.如权利要求7所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

在显示器中显示天花板子模型与地面子模型中心点到两个相邻墙体模型的距离；

根据到两个相邻墙体模型的距离在待测区域中进行实际测量以获取所述极差值的复核数据。

10.一种激光雷达，其特征在于，所述激光雷达用于实现如权利要求1至9中任意一项所述的测量方法。