[发明专利]一种多内存芯片的产品信息辨别方法及装置有效
| 申请号： | 202110720314.9 | 申请日： | 2021-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN113436668B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 谢登煌;宋文杰;刘孜 | 申请（专利权）人： | 深圳市晶存科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/50 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 张志辉 |
| 地址： | 518048 广东省深圳市福田区福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 内存 芯片 产品信息 辨别 方法 装置 | ||
1.一种多内存芯片的产品信息辨别方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
S101,初始化动态随机存储器芯片；
S102,获取DRAM控制器的扫描结果；
S103,读取JEDEC读取寄存器的数据；
S104,根据DRAM控制器的扫描结果、JEDEC寄存器的读取数据，计算总芯片容量信息，其中，计算总芯片容量信息的公式为：，其中，若晶粒的位宽为16bit，则BW=2；若晶粒的位宽为8bit，则BW=1；M为一个通道中排列的总数；为第个排列的容量大小；N为动态随机存储器芯片的通道总数；
S105,根据不同的角色和不同使用场景，将测量得到的动态随机存储器芯片相关数据以不同方式呈现出来；
其中，步骤S102具体包括：
S201,DRAM控制器扫描存储器芯片得到通道数；
S202,DRAM控制器扫描存储器芯片得到排列的数量。
2.根据权利要求1所述的一种多内存芯片的产品信息辨别方法，其中，步骤S105包括，将测量得到的动态随机存储器芯片相关数据与动态随机产品说明书上的数据进行对比，在厂家生产存储器芯片时，根据对比信息，直接定位故障点。
3.根据权利要求1所述的一种多内存芯片的产品信息辨别方法，其中，步骤S105包括，根据测量得到的动态随机存储器芯片相关数据，计算总容量，剩余容量，显示存储芯片的质量和/或容量信息。
4.根据权利要求1所述的一种多内存芯片的产品信息辨别方法，其中，步骤S105包括，根据测量得到的动态随机存储器芯片相关数据，生成存储器芯片各类信息的明细表。
5.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于该指令被处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项权利要求所述的方法的步骤。
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