[发明专利]红外探测器的响应率的获取方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种红外探测器的响应率的获取方法，其特征在于，包括：

获取多组测试数据和每组所述测试数据对应的靶面温度，每组所述测试数据包括红外探测器在对应的靶面温度下基于两个预设黑体的红外辐射得到的电压数据，所述多组测试数据分别对应的靶面温度不同，所述两个预设黑体具有预设温度差值；

对于每组所述测试数据，计算所述测试数据包括的电压数据的差值，根据所述差值和所述预设温度差值，得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述差值和所述预设温度差值，得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率，包括：

将所述差值与所述预设温度差值的比值确定为所述测试数据对应的靶面温度下的响应率。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述差值和所述预设温度差值，得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率，包括：

将所述差值与所述预设温度差值的比值确定为中间响应率；

将所述中间响应率与基准响应率的比值确定为所述测试数据对应的靶面温度下的响应率；其中，所述基准响应率为多组测试数据分别对应的靶面温度中目标靶面温度对应的中间响应率。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率之后，还包括：

对所述多组测试数据分别对应的靶面温度下的响应率进行拟合，得到响应率拟合曲线。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述多组测试数据分别对应的靶面温度下的响应率进行拟合，得到响应率拟合曲线之后，还包括：

判断所述拟合曲线在预设靶面温度范围内是否存在拐点或极点；

若存在所述拐点或所述极点，则修正所述拟合曲线。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述修正所述拟合曲线，包括：

去除所述多组测试数据中的异常数据；

对去除异常数据后的所述多组测试数据分别对应的靶面温度下的响应率进行拟合，得到修正后的响应率拟合曲线。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述修正所述拟合曲线，包括：

重新执行上述获取多组测试数据和每组所述测试数据对应的靶面温度的步骤，对重新获取的多组测试数据分别对应的靶面温度下的响应率进行拟合，得到修正后的响应率拟合曲线。

8.一种红外探测器的响应率的获取装置，其特征在于，包括：

获取数据模块，用于获取多组测试数据和每组所述测试数据对应的靶面温度，每组所述测试数据包括红外探测器在对应的靶面温度下基于两个预设黑体的红外辐射得到的电压数据，所述多组测试数据分别对应的靶面温度不同，所述两个预设黑体具有预设温度差值；

响应率计算模块，用于对于每组所述测试数据，计算所述测试数据包括的电压数据的差值，根据所述差值和所述预设温度差值，得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率。

9.一种终端设备，其特征在于，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。