[发明专利]红外探测器的响应率的获取方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请适用于红外探测器技术领域，提供了红外探测器的响应率的获取方法、装置、设备及存储介质。红外探测器的响应率的获取方法包括：获取多组测试数据和每组测试数据对应的靶面温度，每组测试数据包括红外探测器在对应的靶面温度下基于两个预设黑体的红外辐射得到的电压数据，多组测试数据分别对应的靶面温度不同，两个预设黑体具有预设温度差值；对于每组测试数据，计算测试数据包括的电压数据的差值，根据差值和预设温度差值，得到在测试数据对应的靶面温度下的响应率。本申请提供的红外探测器的响应率的获取方法可以提高响应率计算结果的准确性。

技术领域

本申请属于红外探测器技术领域，尤其涉及一种红外探测器的响应率的获取方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在日常生活中，许多设备都需要安装红外探测器，用以完成诸如安检、夜间摄像等领域的需求。红外探测器可以分为有制冷器和无制冷器两种，由于制冷器成本较高，因此无制冷器的红外探测器逐渐占领了红外探测器市场。

响应率是红外探测器的一个重要参数，它表征了红外探测器的测温性能，通过响应率可以计算得到红外探测器探测到的物体的温度，因此红外探测器的响应率是否准确直接影响到红外探测器的使用效果。

红外探测器的测温功能主要由焦平面阵列完成，焦平面阵列又称靶面，可以接收物体由于自身温度所发出的红外辐射并转换成其它可测量物理信号。不同靶面温度下红外探测器的响应率不同，无制冷器的红外探测器的靶面温度容易受到外界环境的影响而不稳定，由此获得的对应的数据也不准确，进而使得该靶面温度下的响应率的计算结果也不够准确。现有的响应率的计算方法无法避免靶面温度对响应率造成的影响，因此亟需一种方法来提高响应率计算结果的准确性。

发明内容

本申请提供一种红外探测器的响应率的获取方法、装置、设备及存储介质，可以解决响应率计算结果不够准确的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种红外探测器的响应率的获取方法，包括：

获取多组测试数据和每组所述测试数据对应的靶面温度，每组所述测试数据包括红外探测器在对应的靶面温度下基于两个预设黑体的红外辐射得到的电压数据，所述多组测试数据分别对应的靶面温度不同，所述两个预设黑体具有预设温度差值；

对于每组所述测试数据，计算所述测试数据包括的电压数据的差值，根据所述差值和所述预设温度差值，得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述根据所述差值和所述预设温度差值，得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率，包括：

将所述差值与所述预设温度差值的比值确定为所述测试数据对应的靶面温度下的响应率。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述根据所述差值和所述预设温度差值，得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率，包括：

将所述差值与所述预设温度差值的比值确定为中间响应率；

将所述中间响应率与基准响应率的比值确定为所述测试数据对应的靶面温度下的响应率；其中，所述基准响应率为多组测试数据分别对应的靶面温度中目标靶面温度对应的中间响应率。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述得到在所述测试数据对应的靶面温度下的响应率之后，还包括：

对所述多组测试数据分别对应的靶面温度下的响应率进行拟合，得到响应率拟合曲线。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述对所述多组测试数据分别对应的靶面温度下的响应率进行拟合，得到响应率拟合曲线之后，还包括：

判断所述拟合曲线在预设靶面温度范围内是否存在拐点或极点；

若存在所述拐点或所述极点，则修正所述拟合曲线。