[发明专利]集成电路设计方法、装置、电子设备和可读存储介质

权利要求书

1.一种集成电路设计方法，用于修改针对初始集成电路的设计，其中，所述初始集成电路包括多个时序路径，所述方法包括：

获取所述多个时序路径中发生时序违反的至少一个目标时序违反路径，其中，所述至少一个目标时序违反路径的时序起点相同；

确定所述至少一个目标时序违反路径的逻辑单元集合，其中，所述逻辑单元集合中的元素为所述至少一个目标时序违反路径所包含的逻辑单元；

计算所述逻辑单元集合中每个逻辑单元对应的特征距离，其中，所述特征距离为所述逻辑单元扇出的多个时序终点之间的距离的最大值，所述时序终点为所述多个时序路径中所述逻辑单元所在的时序路径的终点；

基于每个逻辑单元对应的特征距离，从所述逻辑单元集合中确定目标单元；以及

基于所述目标单元，复制所述初始集成电路中的至少部分电路逻辑结构而得到克隆电路逻辑结构，以利用所述克隆电路逻辑结构修改所述初始集成电路的设计。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个目标时序违反路径的时序起点为目标时序起点，基于所述目标单元，复制所述初始集成电路中的至少部分电路逻辑结构而得到所述克隆电路逻辑结构，包括：

针对所述至少一个目标时序违反路径中的每个目标时序违反路径，基于所述目标单元，确定每个目标时序违反路径中位于所述目标时序起点和所述目标单元之间的待复制电路逻辑结构；以及

复制所述待复制电路逻辑结构而得到所述克隆电路逻辑结构。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个目标时序违反路径的时序起点为目标时序起点，所述方法还包括：

复制所述目标时序起点而得到克隆时序起点；以及

基于所述克隆电路逻辑结构和所述克隆时序起点，调整所述初始集成电路的电路逻辑结构的连接关系而生成对所述初始集成电路的设计修改后的集成电路设计。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，基于所述克隆电路逻辑结构和所述克隆时序起点，调整所述初始集成电路的电路逻辑结构的连接关系而生成对所述初始集成电路的设计修改后的集成电路设计，包括：

确定所述克隆电路逻辑结构和所述克隆时序起点在所述集成电路中的摆放位置，使得所述克隆时序起点经由所述克隆电路逻辑结构到达所述目标时序违反路径的时序终点的距离小于所述目标时序起点到达所述目标时序违反路径的时序终点之间的距离；以及

根据所述克隆电路逻辑结构和所述克隆时序起点在所述集成电路中的摆放位置，连接所述克隆时序起点、所述克隆电路逻辑结构和第一电路逻辑结构，以生成对所述初始集成电路的设计修改后的集成电路设计，

其中，所述第一电路逻辑结构为所述初始集成电路中除所述目标时序起点和待复制电路逻辑结构之外的电路逻辑结构。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，基于每个逻辑单元对应的特征距离，从所述逻辑单元集合中确定所述目标单元，包括：

基于每个逻辑单元对应的特征距离，确定距离分割值；

确定所述逻辑单元集合中的第一逻辑单元，其中，所述第一逻辑单元的特征距离大于所述距离分割值；

基于所述第一逻辑单元确定第二逻辑单元，其中，所述第二逻辑单元为所述第一逻辑单元的下一级扇出；以及

响应于所述第二逻辑单元的特征距离小于所述距离分割值，确定所述第二逻辑单元为所述目标单元。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，基于每个逻辑单元对应的特征距离，确定所述距离分割值，包括：

比较各个逻辑单元分别对应的特征距离，确定最大特征距离；以及

对所述最大特征距离进行计算而得到所述距离分割值。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，对所述最大特征距离进行计算而得到所述距离分割值，包括：

计算所述最大特征距离与N的比值，将所述比值作为所述距离分割值，其中，N≥2且N为整数。