[发明专利]一种基于放电等离子体辅助冷烧结制备ZnO陶瓷的方法在审

专利信息
申请号: 202110726142.6 申请日: 2021-06-29
公开(公告)号: CN113354406A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 赵学童;陈祉伶;梁杰;康晟淋;杨丽君;成立;郝建;廖瑞金;龙宇丽;曾倩;孙健杰 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: C04B35/453 分类号: C04B35/453;C04B35/64
代理公司: 重庆晟轩知识产权代理事务所(普通合伙) 50238 代理人: 王海凤
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 放电 等离子体 辅助 烧结 制备 zno 陶瓷 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于放电等离子体辅助冷烧结制备ZnO陶瓷的方法,该方法采用分析纯99.5%的ZnO粉末,取浓度为2mol/L,添加比~10wt%醋酸溶液与ZnO粉料进行混合,充分研磨均匀,倒入石墨模具,施加3.8‑50MPa压力,保压5min后,在真空环境下以50℃/min的速率升温加热至120‑300℃,保温5min。本发明采用放电等离子体辅助冷烧结的方式,得到高致密度的ZnO陶瓷,相对致密度高于98%,其晶粒生长活化能仅为78.8kJ/mol,约为传统高温烧结的三分之一,烧结耗能从传统烧结的78.76MJ降低到0.11MJ,晶界阻抗随烧结温度的升高而下降,从120℃烧结试样的9.82×106Ω下降到250℃烧结试样的2.75×103Ω。

技术领域

本发明涉及ZnO陶瓷的制备方法,特别涉及一种基于放电等离子体辅助冷烧结制备ZnO陶瓷的方法。

背景技术

ZnO由于禁带宽度窄,约为3.37eV,且具有大量的点缺陷如锌填隙、氧空位等,是一种典型的N型半导体,常用作压敏、气敏、热电以及光学等器件的基础材料而被广泛研究。通常,为了使ZnO陶瓷具有高的致密度和一定的机械性能,烧结温度需要在1000℃以上。然而,高的烧结温度会造成高的能耗,既不经济也不环保。另外,高的烧结温度会导致晶粒的过分长大,晶粒尺寸难以控制。高的烧结温度还会造成ZnO功能陶瓷的液相挥发,比如ZnO压敏陶瓷富铋相的挥发,导致晶界性能劣化,非线性系数下降等。

近年来,低温快速烧结成为了国内外研究的热点,人们逐渐开发出多种新的烧结技术,诸如热压烧结(Hot pressing sintering),液相烧结(Liquid sintering),微波烧结(Microwave sintering),闪烧(Flashing sintering),放电等离子体烧结(Spark plasmasintering,SPS)和冷烧结(Cold sintering process,CSP)。其中,SPS具有高的升温速率(可达100℃/min),可使陶瓷的烧结致密化温度比传统烧结方法下降数百摄氏度,比如SPS烧结ZnO陶瓷,在750℃烧结20min即可达到其理论密度的95%。液相也是陶瓷低温烧结的关键因素之一,Guillon等通过SPS对比研究了干燥的ZnO粉末和潮湿的ZnO粉末的烧结过程,发现采用SPS快速升温(100/min),受潮的纳米(20~50nm)粉末在400℃烧结10min后,致密度可达95%以上,并认为OH可能在陶瓷的致密化过程中起了关键作用。Luo等人也发现水分在ZnO陶瓷的闪烧过程中起着重要作用,采用水分辅助闪烧(Water-assisted flashingsintering),仅需30s即可使ZnO的致密度达到98%,但闪烧的过程中需要对试样施加200V/cm的场强和0.6W/mm3的功率,使试样在烧结的过程中内部温度维持在1100℃以上。尽管如此,这些方法的烧结温度仍然较高,得到的ZnO陶瓷的致密度也不是很理想。

发明内容

针对现有技术存在的上述问题,本发明要解决的技术问题是:提供一种温度低,烧结时间短,外施压力小的放电等离子体辅助冷烧结制备ZnO陶瓷的方法,制备出高致密度的ZnO陶瓷。

为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:一种基于放电等离子体辅助冷烧结制

备ZnO陶瓷的方法,包括如下步骤:

S1:采用分析纯99.5%的商用ZnO粉末,取浓度为0.5-3mol/L,添加比5-20wt%醋酸溶液与ZnO粉料进行混合;

S2:将S1中的混料充分研磨均匀,倒入石墨模具;施加1-50MPa压力,保压1-5min后,在真空环境下,开始以30-100℃/min的速率升温,加热至120-300℃进行烧结,并保温1-15min,得到ZnO陶瓷。

作为改进,所述S1中醋酸溶液的浓度为2mol/L。

作为改进,:所述S2中升温速率为50-100℃/min。

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