[发明专利]一种存储设备检测系统有效

专利信息
申请号: 202110734280.9 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN113533360B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 李锦光 申请(专利权)人: 广东全芯半导体有限公司
主分类号: G01N21/892 分类号: G01N21/892;B65G47/82;G06T7/00;G06T7/64
代理公司: 广州名扬高玥专利代理事务所(普通合伙) 44738 代理人: 郭琳
地址: 523808 广东省东莞市东莞松山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 设备 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种存储设备检测系统,其特征在于,包括,

底座,其上方设置有传送带,所述底座的上表面对称设置有支柱,所述支柱的顶端与顶板连接,所述顶板的上表面设置有控制面板,所述控制面板包括显示屏和控制器,所述控制器用以控制检测过程,所述顶板上开设有检测孔,所述检测孔上表面的两侧均设置有检测器,所述检测器用以检测获取存储设备的图形信息,所述顶板上设置有下料管,所述下料管的顶端连接有下料斗,所述下料斗的底部设置有电子阀,所述电子阀用以控制存储设备进入所述下料管中;

所述顶板的下表面连接有固定块,所述固定块上活动连接有活动杆,所述活动杆的一端连接所述推块,所述活动杆上套设有弹簧,所述弹簧的一端与所述推块连接,所述弹簧的另一端与所述固定块连接;

所述底座的上表面连接有第一L型杆,所述第一L型杆上转动连接有第一转轴,所述第一转轴的顶端连接有第一凸轮,所述第一凸轮通过旋转带动推块进行横向运动,并通过所述弹簧的弹力对所述推块进行收缩,所述第一转轴的底端连接有第一锥齿轮;

所述底座的上表面设置有竖板,所述竖板上转动连接有第二转轴,所述第二转轴的一端连接有第二锥齿轮,所述第二锥齿轮位于第一锥齿轮下方的一侧,且所述第二锥齿轮与所述第一锥齿轮啮合,所述第二转轴的另一端与第二凸轮连接,所述底座上设置有电机,所述电机的输出轴与所述第二转轴传动连接;

所述第一凸轮与推块相接触,第二凸轮位于第二活动块的正下方,所述第二凸轮与所述第二活动块相接触;

下料板倾斜设置在横板的一侧,所述下料板的一端位于所述传送带的上方,所述横板上开设有矩形孔,所述矩形孔内活动设置有第一活动块,所述第二凸轮通过旋转带动所述第一活动块进行向上运动,所述横板远离所述第一活动块的一端内壁设置有重力传感器,所述重力传感器用以检测落在所述横板上的存储设备的重力;

在对存储设备进行检测时,所述控制器根据所述重力传感器检测到的存储设备的重力G控制所述推块的推进速度,同时,所述控制器根据存储设备的材料种类不同采取不同方式对所述推块的推进速度进行调整,所述控制器分别根据存储设备的体积C和所述第一活动块上表面的摩擦力f对推块的推进速度进行调节和修正,以得到推块精准的推进速度;

所述推块推进完成后,所述控制器控制所述检测器获取存储设备的图形信息,所述控制器根据获取的图形平均曲率n对存储设备的缺陷进行判定,并对无缺陷的存储设备进行输出,存储设备存在缺陷时,所述控制器分别根据获取的图形局部特征和图形复杂度对存储设备进行缺陷位置判定。

2.根据权利要求1所述的存储设备检测系统,其特征在于,在对存储设备进行检测时,所述控制器控制所述第一凸轮进行旋转至完全露出所述下料管的下口,所述下料管的下口完全露出后,所述控制器控制所述电子阀打开,当任一存储设备从所述下料斗中漏下后关闭所述电子阀,所述控制器将检测得到的存储设备的重力G与预设存储设备重力G0进行比对,并根据比对结果控制所述推块进行推进,其中,

当G<G0时,所述控制器控制所述推块以速度D1进行推进;

当G≥G0时,所述控制器控制所述推块以速度D2进行推进,设定D2=D1×[1-(G-G0)/G0];

其中,D1为预设推块推进速度。

3.根据权利要求2所述的存储设备检测系统,其特征在于,所述控制器在确定所述推块的推进速度后,所述控制器根据存储设备的材料种类对所述推块的推进速度Di进行调整,设定i=1,2,其中,

当存储设备的材料种类为A1时,所述控制器根据所述存储设备的体积对推进速度Di进行调整;

当存储设备的材料种类为A2时,所述控制器根据所述第一活动块上表面的摩擦力对推进速度Di进行调整;

其中,A1为非金属材料,A2为金属材料。

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