[发明专利]一种存储设备检测系统

说明书

本发明涉及一种存储设备检测系统，涉及设备检测技术领域，包括，底座，其上方设置有传送带，所述底座的上表面对称设置有支柱，所述支柱的顶端与顶板连接，所述顶板的上表面设置有控制面板，所述控制面板包括显示屏和控制器，所述控制器用以控制检测过程，所述顶板上开设有检测孔，所述检测孔上表面的两侧均设置有检测器，所述检测器用以检测获取存储设备的图形信息，所述顶板上设置有下料管，所述下料管的顶端连接有下料斗，所述下料斗的底部设置有电子阀，所述电子阀用以控制存储设备进入所述下料管中。本发明所述系统有效提高了存储设备的检测效率。

技术领域

本发明涉及设备检测技术领域，尤其涉及一种存储设备检测系统。

背景技术

存储设备是用于储存信息的设备，通常是将信息数字化后再以利用电、磁或光学等方式的媒体加以存储。

现代信息技术都是围绕着一个场效应晶体管而展开的，器件的制造工艺一般都包含几百步的工序，主要可以分为光刻、刻蚀、清洗、薄膜生长和离子注入等几大主要的工艺模块。同时由于器件尺寸的不断缩小，生产制造过程的任何微小的异常都可能使得芯片整个失效，所以在生产过程中往往会配置相当数量的检测设备来及时发现制造工艺中的问题。

现有技术中，在对存储设备进行检测时，需要人工进行逐个检测，无法在保证检测准确度的同时保证检测速度，因此降低了存储设备检测的效率。

发明内容

为此，本发明提供一种存储设备检测系统，用以克服现有技术中无法在保证检测精度的同时保证检测速度导致的检测效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种存储设备检测系统，包括，

底座，其上方设置有传送带，所述底座的上表面对称设置有支柱，所述支柱的顶端与顶板连接，所述顶板的上表面设置有控制面板，所述控制面板包括显示屏和控制器，所述控制器用以控制检测过程，所述顶板上开设有检测孔，所述检测孔上表面的两侧均设置有检测器，所述检测器用以检测获取存储设备的图形信息，所述顶板上设置有下料管，所述下料管的顶端连接有下料斗，所述下料斗的底部设置有电子阀，所述电子阀用以控制存储设备进入所述下料管中；

第一凸轮，其通过旋转带动推块进行横向运动，所述第一凸轮与推块相接触，第二凸轮位于第二活动块的正下方，所述第二凸轮与所述第二活动块相接触；

下料板倾斜设置在横板的一侧，所述下料板的一端位于所述传送带的上方，所述横板上开设有矩形孔，所述矩形孔内活动设置有第一活动块，所述第二凸轮通过旋转带动所述第一活动块进行向上运动，所述横板远离所述第一活动块的一端内壁设置有重力传感器，所述重力传感器用以检测落在所述横板上的存储设备的重力；

在对存储设备进行检测时，所述控制器根据所述重力传感器检测到的存储设备的重力G控制所述推块的推进速度，同时，所述控制器根据存储设备的材料种类不同采取不同方式对所述推块的推进速度进行调整，所述控制器分别根据存储设备的体积C和所述第一活动块上表面的摩擦力f对推块的推进速度进行调节和修正，以得到推块精准的推进速度；

所述推块推进完成后，所述控制器控制所述检测器获取存储设备的图形信息，所述控制器根据获取的图形平均曲率n对存储设备的缺陷进行判定，并对无缺陷的存储设备进行输出，存储设备存在缺陷时，所述控制器分别根据获取的图形局部特征和图形复杂度对存储设备进行缺陷位置判定。

进一步地，在对存储设备进行检测时，所述控制器控制所述第一凸轮进行旋转至完全露出所述下料管的下口，所述下料管的下口完全露出后，所述控制器控制所述电子阀打开，当任一存储设备从所述下料斗中漏下后关闭所述电子阀，所述控制器将检测得到的存储设备的重力G与预设存储设备重力G0进行比对，并根据比对结果控制所述推块进行推进，其中，

当G＜G0时，所述控制器控制所述推块以速度D1进行推进；