[发明专利]串联质谱设备和质谱检测系统

权利要求书

1.一种串联质谱设备，其特征在于，包括聚焦装置、飞行时间质量分析器、离子阱质量分析器和控制装置；

所述聚焦装置用于将待测离子聚焦，使所述待测离子到达后级的所述飞行时间质量分析器；

所述控制装置用于根据测试要求，对所述飞行时间质量分析器和所述离子阱质量分析器中的电极进行电压时序控制，调整所述待测离子的运行轨迹，实现飞行时间质谱分析或离子阱质谱分析的工作模式切换；

所述飞行时间质量分析器用于当所述工作模式为飞行时间质谱分析时，对所述待测离子进行飞行时间质谱分析，还用于当所述工作模式为离子阱质谱分析时，将所述待测离子传输至后级的所述离子阱质量分析器；

所述离子阱质量分析器用于当所述工作模式为离子阱质谱分析时，对穿过所述飞行时间质量分析器的待测离子进行离子阱质谱分析。

2.根据权利要求1所述的串联质谱设备，其特征在于，所述聚焦装置包括聚焦单元和偏转单元；

所述聚焦单元用于将待测离子聚焦，以使所述待测离子到达所述偏转单元；

所述偏转单元用于对所述待测离子进行再聚焦，以使所述待测离子到达后级的所述飞行时间质量分析器。

3.根据权利要求1所述的串联质谱设备，其特征在于，所述聚焦装置为珊网式静电四极杆、圆环透镜组、直流四极杆和偏转电极中一种或多种的组合。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的串联质谱设备，其特征在于，所述飞行时间质量分析器包括调制装置、加速装置、反射装置和检测装置；

所述调制装置设置于调制区，用于调制所述待测离子的运行轨迹，使所述待测离子进入加速区或到达所述离子阱质量分析器；

所述加速装置设置于所述加速区，用于对进入所述加速区的所述待测离子进行加速处理，使所述待测离子被加速后穿过无场区进入反射区；

所述反射装置设置于所述反射区，用于对进入所述反射区的所述待测离子进行反射处理，使所述待测离子被反射后穿过所述无场区到达检测区；

所述检测装置设置于所述检测区，用于对进入所述检测区的所述待测离子进行检测。

5.根据权利要求4所述的串联质谱设备，其特征在于，所述调制装置包括第一狭缝电极、门电极和推斥板；所述第一狭缝电极设置于所述调制区入口；所述门电极设置于所述调制区出口，且所述门电极的离子通道对准所述离子阱质量分析器的离子入口；

所述推斥板设置于所述第一狭缝电极和所述门电极之间，用于在所述工作模式为飞行时间质谱分析时，调制所述待测离子的运行轨迹，使所述待测离子进入所述加速区。

6.根据权利要求1至3任意一项所述的串联质谱设备，其特征在于，所述离子阱质量分析器包括第一端盖电极、反应电极、第二端盖电极和离子检测装置；所述第一端盖电极和所述第二端盖电极相对设置，所述反应电极设置于所述第一端盖电极和所述第二端盖电极之间；

所述第一端盖电极设置于所述离子阱质量分析器的离子入口，所述离子检测装置设置于所述离子阱质量分析器的离子出口；

所述第一端盖电极用于当所述工作模式为离子阱质谱分析时开启所述离子入口，使待测离子通过所述离子入口到达离子阱；

所述反应电极用于形成所述离子阱，还用于使所述离子阱作用于所述待测离子，最终使所述待测离子到达所述离子检测装置；

所述离子检测装置用于检测所述待测离子。

7.一种质谱检测系统，其特征在于，包括沿待测离子运行通道依次设置的毛细管、聚焦结构、传输四极杆和如权利要求1至6任意一项所述的串联质谱设备。

8.根据权利要求7所述的质谱检测系统，其特征在于，还包括四极杆滤质器和碰撞池，所述四极杆滤质器和所述碰撞池依次设置于所述传输四极杆和所述串联质谱设备之间。

9.根据权利要求7所述的质谱检测系统，其特征在于，所述毛细管和所述聚焦结构设置于同一腔室，所述传输四极杆设置于另一腔室；其中，不同腔室的真空度不同。

10.根据权利要求7至9任意一项所述的质谱检测系统，其特征在于，所述聚焦结构为离子漏斗、射频四极杆或离子迁移谱结构。