[发明专利]串联质谱设备和质谱检测系统

说明书

本申请涉及一种串联质谱设备和质谱检测系统。该联质谱设备包括聚焦装置、飞行时间质量分析器、离子阱质量分析器和控制装置。聚焦装置用于对待测离子进行聚焦，使待测离子到达后级的飞行时间质量分析器。控制装置用于根据测试要求，调整待测离子的运行轨迹，实现飞行时间质谱分析或离子阱质谱分析的工作模式切换；飞行时间质量分析器用于当工作模式为飞行时间质谱分析时，对待测离子进行飞行时间质谱分析；离子阱质量分析器用于当工作模式为离子阱质谱分析时，对穿过飞行时间质量分析器的待测离子进行离子阱质谱分析。上述串联质谱设备，有利于扩展串联质谱设备的应用场景。

技术领域

本申请涉及质谱检测技术领域，特别是涉及一种串联质谱设备和质谱检测系统。

背景技术

质谱分析方法是将物质粒子电离成离子，并通过适当的稳定或变化的电场或磁场将它们按空间位置、时间顺序等实现质核比分离，并检测其强度来作定性、定量分析的分析方法。作为质谱分析的方法之一的串联分析方法，近年来在各种领域中被广泛利用。

传统的串联质谱设备，在飞行时间质谱分析器的前级串联离子阱，组合得到离子阱飞行时间质谱(Ion Trap-Time of Fight Mass Spectrometer，IT-TOFMS)，其中，离子阱用于选择并保持离子、通过CID(Collision-Induced Dissociation，碰撞诱导裂解)使待测离子发生裂解，以便后续进行飞行时间质谱分析。可见，传统的串联质谱设备，质量分析方式仍为单一的飞行时间质量分析，离子从产生到被检测的经历路程相对较长，离子损失的机率多，无法同时兼顾高分辨率和高离子利用率的要求。

因此，传统的串联质谱设备，具有应用场景受限的缺点。

发明内容

基于此，有必要提供一种串联质谱设备和质谱检测系统，克服传统的串联质谱设备应用场景受限的缺点。

一种串联质谱设备，包括聚焦装置、飞行时间质量分析器、离子阱质量分析器和控制装置；

所述聚焦装置用于将待测离子聚焦，使所述待测离子到达后级的所述飞行时间质量分析器；

所述控制装置用于根据测试要求，对所述飞行时间质量分析器和所述离子阱质量分析器中的电极进行电压时序控制，调整所述待测离子的运行轨迹，实现飞行时间质谱分析或离子阱质谱分析的工作模式切换；

所述飞行时间质量分析器用于当所述工作模式为飞行时间质谱分析时，对所述待测离子进行飞行时间质谱分析，还用于当所述工作模式为离子阱质谱分析时，将所述待测离子传输至后级的所述离子阱质量分析器；

所述离子阱质量分析器用于当所述工作模式为离子阱质谱分析时，对穿过所述飞行时间质量分析器的待测离子进行离子阱质谱分析。

在其中一个实施例中，所述聚焦装置包括聚焦单元和偏转单元；

所述聚焦单元用于将待测离子聚焦，以使所述待测离子到达所述偏转单元；

所述偏转单元用于对所述待测离子进行再聚焦，以使所述待测离子到达后级的所述飞行时间质量分析器。

在其中一个实施例中，所述聚焦装置为珊网式静电四极杆、圆环透镜组、直流四极杆和偏转电极中一种或多种的组合。在其中一个实施例中，所述飞行时间质量分析器包括调制装置、加速装置、反射装置和检测装置；

所述调制装置设置于调制区，用于调制所述待测离子的运行轨迹，使所述待测离子进入加速区或到达所述离子阱质量分析器；

所述加速装置设置于所述加速区，用于对进入所述加速区的所述待测离子进行加速处理，使所述待测离子被加速后穿过无场区进入反射区；

所述反射装置设置于所述反射区，用于对进入所述反射区的所述待测离子进行反射处理，使所述待测离子被反射后穿过所述无场区到达检测区；