[发明专利]电子器件老化试验系统

说明书

本发明提供一种电子器件老化试验系统，包括壳体，在壳体内设有支架，支架用于承载多个老化试验模块，支架将壳体内腔分隔为进风风道和回风风道；支架上设有多个试验进风口，试验进风口对准老化试验模块，试验进风口连通进风风道和回风风道；进风风道与回风风道之间设有循环风机，以使风在进风风道与回风风道之间往复循环。能够均匀的分配给予各个试验元件的测试环境，确保试验结果的一致性。设置的加热装置、温度传感器、循环风机、电控新风口和主控装置的组合，能够在安全可控的范围内，利用模拟的极限环境，加速得出试验结果。设置的进风压力传感器、回风压力传感器和主控装置的组合，还能够进一步的提高试验的效率。

技术领域

本发明涉及电子器件试验装置领域，特别是一种电子器件老化试验系统。

背景技术

随着光通信技术的发展，网络的稳定性和可靠性也越来越受到重视，光器件及模块的可靠性测试需求也越来越大。光器件在进行可靠性测试时，需要进行高温加电老化测试，筛选出状态不稳定、性能指标下降明显的产品。器件老化常用的方法是将器件放在温箱的高温环境中，给器件加电，经过一定时间后取出筛选出不良品。传统温箱采用热风整体循环的模式进行仓内温度控制，风速相对较小，而且在仓体内部不同位置气流流速不均匀。当器件功率较大时，由于器件自身的发热量很大，风速较大的地方，器件散热良好温度较低，而风速较低的地方，器件散热不良温度很高。采用传统的老化风道设计，由于模块之间温度相差较大，不能给整仓模块提供一个相对准确的老化环境，达不到早期筛选的目的。中国专利CN 111273107 A伺服驱动装置测试柜中记载的方案，即存在上述模块之间温度相差较大的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种电子器件老化试验系统，能够确保各个试验元件之间的测试环境保持一致，以得出可靠的试验结果。优选的方案中，还能够在一定程度上加速试验结果的得出，提高试验效率。能够避免大量损坏试验元件，避免出现试验事故。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：一种电子器件老化试验系统，包括壳体，在壳体内设有支架，支架用于承载多个老化试验模块，支架将壳体内腔分隔为进风风道和回风风道；

支架上设有多个试验进风口，试验进风口对准老化试验模块，试验进风口连通进风风道和回风风道；

进风风道与回风风道之间设有循环风机，以使风在进风风道与回风风道之间往复循环。

优选的方案中，在进风风道或回风风道设有加热装置，加热装置为电加热装置，电加热装置与散热片连接，散热片沿进风风道或回风风道的横截面布置，以使风必须经过散热片换热。

优选的方案中，所述的支架成“S”形布置，回风风道与多个分支进风风道连通，回风风道与多个分支回风风道连通，各个分支进风风道与分支回风风道之间，通过试验进风口连通；

老化试验模块安装在分支回风风道。

优选的方案中，所述的老化试验模块以可拆卸的方式与分支回风风道连接；

在分支回风风道设有试验转接板，试验转接板上设有连接座，连接座用于与转接板电连接，在试验转接板上与连接座相对的位置设有定位销或螺钉，定位销或螺钉用于锁定转接板。

优选的方案中，定位销上设有可转动的压板，当转接板的一端插入到连接座内，压板转动到转接板的上方，将转接板锁定。

优选的方案中，在分支回风风道固设有试验转接板，试验转接板上设有连接座，连接座与转接板上的金手指电连接，在转接板上设有多个转接座，转接座与各个金手指电连接，转接座用于与试验元件电连接，试验转接板还与强化座板固定连接。

优选的方案中，在回风风道还设有电控新风口，用于可控的启闭以导入新风。

优选的方案中，在靠近老化试验模块的位置设有温度传感器，用于监测试验元件的温度变化；