[发明专利]致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110745116.8 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN113233901B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 李端;李俊生;曾良 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: C04B35/58 分类号: C04B35/58;C04B35/622;C04B35/64;C04B35/645
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 黄丽
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 致密 高纯 锶钽氧 氮化物 陶瓷 及其 制备 方法
【说明书】:

发明公开了一种致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷的制备方法,包括将锶钽氧氮化物陶瓷粉体与乙醇混合均匀,球磨后干燥并过筛,得到预烧结粉体,将预烧结粉体在加压、保护气氛或者在加压、真空条件下进行放电等离子烧结,烧结温度为1300℃~1400℃,经冷却,得到陶瓷初烧结体,将陶瓷初烧结体在氨气气氛、无压力条件下进行二次烧结,降温冷却后,得到致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷。本发明的制备方法时间短,制得的致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷具有高纯度、高密度、高介电常数、低介电损耗的优点,有广泛的应用前景。

技术领域

本发明涉及高性能介电陶瓷材料制备技术领域,尤其涉及一种致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷及其制备方法。

背景技术

作为一种新型钙钛矿类材料,锶钽氧氮化物SrTaO2N在室温下有着较高的介电常数,耐酸碱腐蚀,热稳定性好,在高性能电容器等领域有着广泛的应用前景。致密化主要是烧结过程,即颗粒重排靠近,使陶瓷致密化以及晶粒生长的过程,主要影响因素有烧结温度、升温速率和保温时间,在加压烧结过程中压力也会对陶瓷的致密化产生影响。对于烧结温度,烧结温度过高时会导致陶瓷晶粒生长过大或组织机构不均匀,还会促进二次结晶,而过低的烧结温度则会导致晶粒发育不完全材料无法充分致密化,对于介电材料,密度和孔隙率是影响陶瓷介电性能的重要参数,需要选择最佳的烧结温度以获得密度高、孔隙率低的样品们才能得到良好的介电性能。对于升温速率,过快的升温速率将会提高晶粒的长大速度,或出现异常长大,陶瓷表面快速致密化,使其内部气孔难以消除,孔隙率过高。保温过程中,材料的各部分温度均匀化并完全结晶成瓷,当保温时间较短时,陶瓷各部分温度不均匀,晶粒不能充分发育长大,晶界过多;而保温时间延长时,陶瓷中的晶粒重新排列并进一步长大,所得陶瓷材料也会更加致密。针对目前主流的氨化加无压烧结的制备方法有工艺时间长、产物纯度和致密度偏低等不足,因此,对于致密化材料新烧结工艺及参数的研究是至关重要的,现亟待发展一种耗时短的方法烧结得到高密度、高纯度、高介电常数的锶钽氧氮化物陶瓷。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种制备周期较短、具有高纯度、高密度、高介电常数的致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷及其制备方法。

为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:

一种致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷的制备方法,包括以下步骤:

S1、将锶钽氧氮化物陶瓷粉体与乙醇混合均匀,经球磨后,干燥、过筛,得到预烧结粉体;

S2、将步骤S1所得的预烧结粉体,在加压、保护气氛条件下或者在加压、真空条件下进行放电等离子烧结,所述加压的压力为140MPa~150MPa,所述放电等离子烧结的烧结温度为1300℃~1400℃,升温速率为300℃/min~500℃/min,烧结保温0~10min,然后自然冷却,得到陶瓷初始烧结体;

S3、将步骤S2所得的陶瓷初始烧结体在氨气气氛、无压力条件下进行二次烧结,烧结温度为1310℃~1500℃,该烧结温度需大于步骤S2中的烧结温度,升温速率为10℃/min~20℃/min,烧结保温1min~80min,然后降温冷却,得到致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷。

上述的致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷的制备方法,优选的,步骤S2中,烧结保温0~5min。

上述的致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷的制备方法,优选的,步骤S3中,烧结保温20min~60min。

上述的致密高纯锶钽氧氮化物陶瓷的制备方法,优选的,步骤S1中,所述球磨采用的球磨罐材质为聚氨酯、氧化铝或氧化锆,所述球磨采用的球磨珠材质为聚氨酯、氧化铝或氧化锆,所述球磨的时间为1h~8h,所述干燥的温度为50℃~200℃,所述干燥的时间为1h~18h,所述过筛的目数为3000目~10000目。

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