[发明专利]孔位补光方法、孔位补光器、孔位扫描方法和系统有效

专利信息
申请号: 202110753586.9 申请日: 2021-07-02
公开(公告)号: CN113473034B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 陈尚俭;许齐功 申请(专利权)人: 杭州思锐迪科技有限公司
主分类号: H04N23/73 分类号: H04N23/73
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 聂磊
地址: 311100 浙江省杭州市余杭区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 孔位补光 方法 孔位补光器 扫描 系统
【权利要求书】:

1.一种孔位补光方法,用于在三维扫描的过程中,对扫描对象中的孔位区域进行曝光,其特征在于,所述方法包括:

获取所述孔位区域的固有参数;

根据所述固有参数,确定一种曝光模式,按照确定好的所述曝光模式对所述孔位区域进行曝光;

所述曝光模式至少包括第一曝光模式和第二曝光模式;所述第一曝光模式为:在单一图像采集周期内,根据所述孔位区域的亮度,调整孔位补光器的曝光时间;所述第二曝光模式为:在连续图像采集周期内,调整所述孔位补光器以预设的至少两种曝光时间交替点亮;

其中,所述根据所述固有参数,确定一种曝光模式,按照确定好的所述曝光模式对所述孔位区域进行曝光,包括:

在所述孔位区域的材料为一种、和\或颜色差异小于设定阈值的情况下,选取所述第一曝光模式对所述孔位区域进行曝光;

在所述孔位区域的材料大于一种、和\或颜色差异大于或等于所述设定阈值的情况下,选取所述第二曝光模式对所述孔位区域进行曝光。

2.根据权利要求1所述的孔位补光方法,其特征在于,所述固有参数包括所述孔位区域的材料、颜色、或表面处理方式。

3.根据权利要求1至2任一项所述的孔位补光方法,其特征在于,所述第一曝光模式包括:

获取当前孔位曝光时间,按照所述当前孔位曝光时间对所述孔位区域进行曝光;

获取所述孔位区域曝光后的亮度特征,判断所述亮度特征是否属于预设的亮度区间,若是,则将所述当前孔位曝光时间设置为所述第一曝光模式下的目标曝光时间,并在所述单一图像采集周期内,按照所述目标曝光时间对所述孔位区域进行曝光。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一曝光模式还包括:

若所述亮度特征超出所述预设的亮度区间,则根据所述当前孔位曝光时间、所述亮度特征和预设的目标亮度特征,计算期望曝光时间,并将所述期望曝光时间设置为所述当前孔位曝光时间,直到当前孔位曝光时间下对应的亮度特征属于预设的亮度区间,则将所述当前孔位曝光时间设置为目标曝光时间,并按照所述目标曝光时间对所述孔位区域进行曝光。

5.一种孔位补光器,用于在三维扫描的过程中,对扫描对象中的孔位区域进行补光,其特征在于,包括获取模块和曝光模块;

所述获取模块,用于获取所述孔位区域的固有参数;

所述曝光模块,用于根据所述固有参数,确定一种曝光模式,按照确定好的所述曝光模式对所述孔位区域进行曝光,所述曝光模式至少包括第一曝光模式和第二曝光模式;所述第一曝光模式为:在单一图像采集周期内,根据所述孔位区域的亮度,调整孔位补光器的曝光时间;所述第二曝光模式为:在连续图像采样周期内,调整所述孔位补光器以预设的至少两种曝光时间交替点亮;

其中,所述曝光模块,还用于在所述孔位区域的材料为一种、和\或颜色差异小于设定阈值的情况下,选取所述第一曝光模式对所述孔位区域进行曝光;在所述孔位区域的材料大于一种、和\或颜色差异大于或等于所述设定阈值的情况下,选取所述第二曝光模式对所述孔位区域进行曝光。

6.一种孔位扫描方法,用于对扫描对象中的孔位区域进行扫描,其特征在于,包括以下步骤:

采用权利要求1至4任一项的孔位补光方法,对所述扫描对象中的孔位区域进行曝光;

获取所述扫描对象基于孔位区域曝光和标记点曝光的孔位图像;

从所述孔位图像中提取曝光后的所述标记点信息和所述孔位信息,并根据所述标记点信息和所述孔位信息,重建所述孔位的三维数据。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述获取所述扫描对象基于孔位区域曝光和标记点曝光的孔位图像,包括:

获取所述扫描对象在不同扫描位置下进行扫描,得到的不同曝光时间下的多幅孔位图像。

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