[发明专利]孔位补光方法、孔位补光器、孔位扫描方法和系统有效

专利信息
申请号: 202110753586.9 申请日: 2021-07-02
公开(公告)号: CN113473034B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 陈尚俭;许齐功 申请(专利权)人: 杭州思锐迪科技有限公司
主分类号: H04N23/73 分类号: H04N23/73
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 聂磊
地址: 311100 浙江省杭州市余杭区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 孔位补光 方法 孔位补光器 扫描 系统
【说明书】:

本申请提供一种孔位补光方法、孔位补光器、孔位扫描方法和系统,通过获取孔位区域的固有参数,根据固有参数,确定一种曝光模式,按照确定好的曝光模式对孔位区域进行曝光,曝光模式至少包括第一曝光模式和第二曝光模式;第一曝光模式为:在单一图像采集周期内,根据孔位区域的亮度,调整孔位补光器的曝光时间;第二曝光模式为:在连续图像采集周期内,调整孔位补光器以预设的至少两种曝光时间交替点亮。其基于孔位区域的固有参数,为孔位区域选择不同曝光模式进行曝光,能够获得满足准确提取要求的孔位区域的图像特征,从而提高了孔位边缘信息提取的准确度,进而提高了孔位重建的精度。

技术领域

本申请涉及机器人的三维扫描技术领域,特别是涉及一种孔位补光方法、孔位补光器、孔位扫描方法和系统。

背景技术

在三维扫描系统中,通过在扫描过程中对扫描对象的孔位进行曝光,能够提高后续孔位重建的精度。孔位补光器的曝光时间过小,采集的孔位图像过暗,无法提取孔位边缘信息;孔位补光器的曝光时间过大,采集的孔位图像过亮,当图像过曝时孔位的边缘信息不够准确,会导致重建孔位的精度降低。所以,孔位补光器的曝光时间对重建孔位的精度影响很大。

现有技术在对不同材料的扫描对象进行孔位补光时,为了适应扫描对象的材料属性对孔位重建精度的影响,往往需要手动调节孔位补光器的曝光时间,以提高不同材料的扫描对象的孔位重建精度。这种方式,一方面手动调节的准确度无法保证,另一方面,对于材料复杂的扫描对象,单一的孔位曝光时间难以满足孔位重建的精度要求。

针对目前手动调节实现单一的孔位曝光时间,难以满足扫描对象的孔位重建的精度要求的问题,尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种孔位补光方法、孔位补光器、孔位扫描方法和系统,以至少解决相关技术中存在的手动调节实现单一的孔位曝光时间,难以满足扫描对象的孔位重建的精度要求的问题。

第一方面,本申请实施例提供了一种孔位补光方法,用于在三维扫描的过程中,对扫描对象中的孔位区域进行曝光,所述方法包括以下步骤:

获取所述孔位区域的固有参数;

根据所述固有参数,确定一种曝光模式,按照确定好的所述曝光模式对所述孔位区域进行曝光;

所述曝光模式至少包括第一曝光模式和第二曝光模式;所述第一曝光模式为:在单一图像采集周期内,根据所述孔位区域的亮度,调整孔位补光器的曝光时间;所述第二曝光模式为:在连续图像采集周期内,调整所述孔位补光器以预设的至少两种曝光时间交替点亮。

在其中一些实施例中,所述固有参数包括所述孔位区域的材料、颜色、或表面处理方式。

在其中一些实施例中,根据所述固有参数,确定一种曝光模式,按照确定好的所述曝光模式对所述孔位区域进行曝光,包括以下步骤:

在所述孔位区域的材料为一种、和\或颜色差异小于设定阈值的情况下,选取所述第一曝光模式对所述孔位区域进行曝光;

在所述孔位区域的材料大于一种、和\或颜色差异大于或等于所述设定阈值的情况下,选取所述第二曝光模式对所述孔位区域进行曝光。

在其中一些实施例中,所述第一曝光模式包括:

获取当前孔位曝光时间,按照所述当前孔位曝光时间对所述孔位区域进行曝光;

获取所述孔位区域曝光后的亮度特征,判断所述亮度特征是否属于预设的亮度区间,若是,则将所述当前孔位曝光时间设置为所述第一曝光模式下的目标曝光时间,并在所述单一图像采集周期内,按照所述目标曝光时间对所述孔位区域进行曝光。

在其中一些实施例中,所述第一曝光模式还包括:

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