[发明专利]误码率测量装置及误码率测量方法在审

专利信息
申请号: 202110759370.3 申请日: 2021-07-05
公开(公告)号: CN114221719A 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 城所久生;稻叶裕之 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: H04B17/309 分类号: H04B17/309;H04L43/0823
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李芳华
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 误码率 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种误码率测量装置,其具备:

数据发送部(4),将已知波形的测试信号及由通信标准设定的参数值发送至被测物(W):及

比特错误测量部(5a),测量从所述被测物发送的信号的比特错误,所述误码率测量装置的特征在于,

所述数据发送部依次变更所述参数值并发送至所述被测物,

所述比特错误测量部测量从与所述参数值对应的所述被测物发送的信号的比特错误,

所述误码率测量装置具备在所述比特错误测量部的测量结果中将比特错误最少的参数值判定为所述被测物的输出波形的加重的最佳值的判别部(5b)。

2.根据权利要求1所述的误码率测量装置,其特征在于,

所述通信标准为PCIExpress标准,所述数据发送部在用于管理链接状态的链路训练中的Recovery Equalization Phase的超时时间内依次变更基于Preset或Cursor的所述参数值并发送至所述被测物。

3.根据权利要求2所述的误码率测量装置,其特征在于,

所述数据发送部将所述加重的最佳值发送至所述被测物,

所述比特错误测量部在使所述被测物的链路训练状态机过渡到回送状态的状态下测量通过所述数据发送部发送至所述被测物的所述加重的最佳值而加重得到调整控制的所述被测物的输出波形的比特错误。

4.根据权利要求2或3所述的误码率测量装置,其特征在于,具备:

存储部(6),保存包含所述比特错误测量部测量到的比特错误的测量结果的状态过渡日志。

5.一种误码率测量方法,其包括:

将已知波形的测试信号及由通信标准设定的参数值发送至被测物(W);及

测量从所述被测物发送的信号的比特错误,所述误码率测量方法的特征在于,包括如下步骤:

依次变更所述参数值并发送至所述被测物的步骤;

测量从与所述参数值对应的所述被测物发送的信号的比特错误的步骤;及

在所述比特错误的测量结果中,将比特错误最少的参数值判定为所述被测物的输出波形的加重的最佳值的步骤。

6.根据权利要求5所述的误码率测量方法,其特征在于,

所述通信标准为PCIExpress标准,依次变更所述参数值并发送至所述被测物的步骤被设为在用于管理链接状态的链路训练中的RecoveryEqualization Phase的超时时间内依次变更基于Preset或Cursor的所述参数值并发送至所述被测物的步骤。

7.根据权利要求6所述的误码率测量方法,其特征在于,包括:

将所述加重的最佳值发送至所述被测物的步骤;及

在使所述被测物的链路训练状态机过渡到回送状态的状态下测量通过发送至所述被测物的所述加重的最佳值而加重得到调整控制的所述被测物的输出波形的比特错误的步骤。

8.根据权利要求6或7所述的误码率测量方法,其特征在于,包括:

保存包含所述比特错误的测量结果的状态过渡日志的步骤。

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