[发明专利]误码率测量装置及误码率测量方法在审
申请号: | 202110759370.3 | 申请日: | 2021-07-05 |
公开(公告)号: | CN114221719A | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 城所久生;稻叶裕之 | 申请(专利权)人: | 安立股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/309 | 分类号: | H04B17/309;H04L43/0823 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 李芳华 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 误码率 测量 装置 测量方法 | ||
通过链路训练进行被测物的输出波形的加重调整。误码率测量装置(1)具备:数据发送部(4),将已知波形的测试信号及由通信标准设定的参数值发送至被测物(W);及比特错误测量部(5a),测量从所述被测物发送的信号的比特错误,所述数据发送部依次变更所述参数值并发送至所述被测物,所述比特错误测量部测量从与所述参数值对应的所述被测物发送的信号的比特错误,所述误码率测量装置具备在所述比特错误测量部的测量结果中将比特错误最少的参数值判定为所述被测物的输出波形的加重的最佳值的判别部(5b)。
技术领域
本发明涉及一种在使被测物(DUT:Device Under Test)过渡到信号波形返回的状态的状态下将已知波形的测试信号发送至被测物,并测量伴随该测试信号的发送而从被测物返回并接收的输入数据的比特误码率(BER:Bit Error Rate)的误码率测量装置及误码率测量方法。
背景技术
以往,如下述专利文献1中所公开,误码率测量装置例如已知有如下装置,即,在使被测物(DUT)过渡到信号波形返回的状态的状态下,将包含固定数据的已知波形的测试信号发送至被测物,并且以比特单位来比较伴随该测试信号的发送而从被测物返回并接收的被测量信号与成为基准的参考信号,测量比特误码率。
作为使用这种误码率测量装置进行的由PCI Express(串行总线)(以下,简称为PCIe)PHY Test Specification(物理层测试规范)规定的一致性试验的项目之一,有用于评价被测物的接收性能的Link Equalization Test(动态均衡链接测试)。该测试为在链路训练中,被测物对误码率测量装置的输出波形的加重进行优化之后,使用由被测物回送的信号进行比特错误测量的测试。被测物控制误码率测量装置的输出波形,测试是否能够对被测物的接收进行优化。即,从误码率测量装置在被测物方向的传输路径上进行误码率测量装置的输出波形的加重优化。
另一方面,从被测物在误码率测量装置方向的传输路径上,尚未规定被测物的输出波形的加重优化。这是因为,通常误码率测量装置的接收性能高于被测物的性能,因此目前为止认为无需进行优化。
专利文献1:日本特开2007-274474号公报
然而,在新标准化的PCIe Gen5(32.0GT/s)的高速信号中,即使在误码率测量装置中,若从被测物不输出施加了与传输路径相对应的最佳的加重的波形,则也难以从被测物接收波形而获得零差错。但是,手动进行被测物的输出波形的加重调整非常困难。这是因为,在被测物的内部设定中用于访问的信息未公开的情况居多。其结果,若要进行被测物的输出波形的加重调整,则需要通过链路训练来进行。
发明内容
因此,本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供一种在链路训练中能够获得用于对被测物的输出波形的加重进行调整控制的最佳值的误码率测量装置及误码率测量方法。
为了实现上述目的,本发明的方案1所述的误码率测量装置具备:数据发送部4,将已知波形的测试信号及由通信标准设定的参数值发送至被测物W;及比特错误测量部5a,测量从所述被测物发送的信号的比特错误,所述误码率测量装置的特征在于,
所述数据发送部依次变更所述参数值并发送至所述被测物,所述比特错误测量部测量从与所述参数值对应的所述被测物发送的信号的比特错误,
所述误码率测量装置具备在所述比特错误测量部的测量结果中将比特错误最少的参数值判定为所述被测物的输出波形的加重的最佳值的判别部5b。
本发明的方案2所述的误码率测量装置在方案1的误码率测量装置中,其特征在于,所述通信标准为PCIExpress标准,所述数据发送部在用于管理链接状态的链路训练中的Recovery Equalization Phase的超时时间内依次变更基于Preset或Cursor的所述参数值并发送至所述被测物。
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