[发明专利]测量激光光轴瞄准偏差的装置和安装有该装置的激光设备有效
申请号: | 202110768079.2 | 申请日: | 2021-07-07 |
公开(公告)号: | CN113587822B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 李梦庆;韦博;胡黎明;宋磊;武春风;李强;张贵清;彭小康;熊准;潘浩;姚刚;庞中昊 | 申请(专利权)人: | 湖北航天技术研究院总体设计所 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01M11/02;G02B26/08;G02B26/10 |
代理公司: | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 张凯 |
地址: | 430040*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 激光 光轴 瞄准 偏差 装置 装有 激光设备 | ||
本申请涉及一种测量激光光轴瞄准偏差的装置和安装有该装置的激光设备,涉及高能激光技术领域,装置包括:可绕一竖直轴转动的基座;激光接收机构,其包括中空的盖体和安装在盖体中的扫描镜组件,盖体上开设有可供激光穿过的进口和出口,扫描镜组件用于接收经过进口的激光,折反射接收的激光并朝基座竖直向下发出;反射镜组,其设在基座上,用以接收经过出口的激光,反射至少一次接收的激光后输出;靶面组件,其包括设于基座上的聚焦透镜和带有标记点的靶标,聚焦透镜用于汇聚输出的激光以在靶标上形成光斑,光斑和标记点可供计算激光光轴的瞄准偏差。本申请无需大场地测量环境,还能够满足激光装备在全工作范围瞄准偏差的测量。
技术领域
本申请涉及高能激光技术领域,特别涉及一种测量激光光轴瞄准偏差的装置和安装有该装置的激光设备。
背景技术
激光光轴的“瞄准偏差”作为激光设备性能指标之一,直接影响着激光设备的工作效能。相关的激光设备瞄准性能测试通常采用外场测试,该测试方法包括:
在外场试验区放置带有十字标记(标记点)的靶标,再使用跟踪相机对靶标成像,使成像在跟踪相机中的靶标上的十字标记与相机的靶面中心十字大致相重合,通过跟踪相机控制电调镜对靶面中心十字进行闭环,使得靶面中心十字成像在跟踪相机的探测器中央;之后,激光设备工作,发出激光,在靶标上进行烧蚀,使用测量工具测量靶标烧蚀点与靶面中心十字的距离,即计算激光光轴的瞄准偏差。
然而,在上述的测试方法中,仍然存在几点明显的缺点,比如测量需要长距离的场地,对试验场地的空间要求高;测量激光设备在某一方位角和某一俯仰角是的激光光轴的瞄准偏差,难以继续测量发射的激光光轴为其他方位角或其他俯仰角的情况,即不能适用在激光设备全工作范围内的测量。
发明内容
本申请实施例提供一种测量激光光轴瞄准偏差的装置和安装有该装置的激光设备,以解决相关技术中测量激光光轴的瞄准偏差时所需空间过大、测量范围窄的问题。
第一方面,提供了一种测量激光光轴瞄准偏差的装置,包括:
可绕一竖直轴转动的基座;
激光接收机构,其包括中空的盖体和安装在所述盖体中的扫描镜组件,所述盖体上开设有可供激光穿过的进口和出口,所述扫描镜组件用于接收经过所述进口的激光,折反射接收的激光并朝所述基座竖直向下发出;
反射镜组,其设在所述基座上,用以接收经过所述出口的激光,反射至少一次接收的激光后输出;
靶面组件,其包括设于所述基座上的聚焦透镜和带有标记点的靶标,所述聚焦透镜用于汇聚输出的激光以在所述靶标上形成光斑,其中,所述光斑和所述标记点可供计算激光光轴的瞄准偏差。
一些实施例中,所述扫描镜组件包括控制装置和依次布置的正透镜组、电调镜、负透镜组、广角透镜组;
所述控制装置与所述电调镜相连,用于控制所述电调镜绕一转动轴旋转以改变激光的偏转角度;
所述负透镜组的中心轴与所述广角透镜组的中心轴大致重合,还与所述正透镜组的中心轴大致垂直于一处,该处与所述转动轴大致重合。
一些实施例中,所述广角透镜组的焦距小于所述负透镜组的焦距。
一些实施例中,还包括:
缩束镜组,其设于所述基座上,位于所述反射镜组和所述聚焦透镜之间。
一些实施例中,所述缩束镜组具体包括依次设在所述反射镜组和所述聚焦透镜之间的凹透反射镜和凸透反射镜。
一些实施例中,还包括:
环形设置的轨道,所述轨道的中心轴与所述竖直轴大致重合;
滑移件,其组设在所述轨道上,并可沿所述轨道移动,且所述滑移件与所述基座连接。
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