[发明专利]一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置及检查方法

权利要求书

1.一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，所述导电粒子压痕检查装置设置在上游设备和下游设备之间，并与上游设备和下游设备衔接，所述导电粒子压痕检查装置包括：上料装置、载料装置、传送装置、光学检测装置以及下料装置；

所述上料装置用于接收所述上游设备绑定完成的异方性导电胶膜产品，并将所述产品放置在载料装置上；

所述载料装置用于承载所述产品，所述载料装置设置有多个，多个载料装置依次排列放置在所述传送装置上；

所述传送装置驱动多个载料装置循环移动；载有产品的载料装置在移动的过程中依次经过光学检测装置和下料装置；

所述光学检测装置用于对所述产品进行导电粒子的压痕检测，并输出检测结果；

所述下料装置用于将载料装置上检测合格的产品取下并传递给下游设备。

2.根据权利要求1所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，还包括不合格产品收集装置，所述不合格产品收集装置用于收集所述光学检测装置检测出的不合格产品；所述不合格产品收集装置包括取料装置和不良品收集箱；所述取料装置用于将载料装置上检测不合格的产品取下并放入不良品收集箱中。

3.根据权利要求2所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，所述取料装置、上料装置、下料装置结构相同。

4.根据权利要求3所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，所述上料装置包括支架、横向位移组件、纵向位移组件以及吸盘组件，所述横向位移组件安装在支架上，所述横向位移组件与纵向位移组件连接并驱动纵向位移组件在水平方向上往复位移，所述纵向位移组件与吸盘组件连接并驱动吸盘组件在竖直方向上往复位移，所述吸盘组件用于吸附所述产品。

5.根据权利要求1所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，所述载料装置包括载体，在载体的顶部形成有用于容纳所述产品的型槽。

6.根据权利要求1所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，所述传送装置包括两条并排平行设置的传送带，所述两条传送带的传送方向相反，在两条传送带的两端分别设置有换位装置，所述换位装置用于在两条传送带之间移动载料装置。

7.根据权利要求6所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，所述换位装置包括换位平台、平移组件一和平移组件二，所述换位平台与两条传送带的端部衔接，所述平移组件一用于将载料装置从换位平台的其中一侧推至另外一侧，所述平移组件二用于将载料装置从换位平台上推至传送带上。

8.根据权利要求1所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，所述下料装置与下游设备之间设置输送装置，下料装置将载料装置上检测合格的产品取下后通过输送装置传递给下游设备。

9.根据权利要求1所述的一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查装置，其特征在于，在上料装置处设置上料识别装置和接料体，在接料体顶部形成有用于容纳所述产品的接料槽，上游设备将产品传递放置在接料体顶部的接料槽中，所述上料识别装置用于识别上游设备的传递动作。

10.一种用于COF/FPC的导电粒子压痕检查方法，其特征在于，使用导电粒子压痕检查装置进行检测，所述导电粒子压痕检查装置设置在上游设备和下游设备之间，并与上游设备和下游设备衔接，所述导电粒子压痕检查装置包括上料装置、载料装置、传送装置、光学检测装置以及下料装置；

所述方法包括：

所述上料装置接收所述上游设备绑定完成的异方性导电胶膜产品，并将所述产品放置在载料装置上；

所述传送装置驱动载料装置循环移动；载有产品的载料装置在移动的过程中依次经过光学检测装置和下料装置；

所述光学检测装置对所述产品进行导电粒子的压痕检测，并输出检测结果；

所述下料装置将载料装置上检测合格的产品取下并传递给下游设备。