[发明专利]一种集成电路输入端测试装置

权利要求书

1.一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：其结构包括基座（1）、固位把（2）、探针（3）、承载台（4）、对扣（5）、弹簧（6），所述基座（1）上连接有探针（3）和弹簧（6），所述弹簧（6）一端连接有对扣（5），所述对扣（5）连接有固位把（2），所述固位把（2）上设置有承载台（4），所述承载台（4）包括助力组件（41）、垫片（42）、囊括节（43）、护板（44），所述助力组件（41）通过垫片（42）与囊括节（43）间接配合，所述垫片（42）连接在固位把（2）上，且两侧连接有护板（44）。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：所述助力组件（41）包括竖框（411）、挡把（412）、复位结构（413）、卡盘（414）、抓手（415），所述竖框（411）连接在垫片（42）和卡盘（414）上，所述卡盘（414）上连接有抓手（415）,且其内部设置有挡把（412）和复位结构（413）。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：所述抓手（415）通过挡把（412）活动卡合在囊括节（43）上。

4.根据权利要求2所述的一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：所述挡把（412）包括磨合层（121）、通腔（122）、斜板（123）、托筋（124），所述托筋（124）连接在磨合层（121）上，且其上方连接有抓手（415），所述磨合层（121）连接在斜板（123）上，所述斜板（123）之间开设有通腔（122），所述通腔（122）与复位结构（413）间接配合。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：所述通腔（122）与复位结构（413）间接配合。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：所述复位结构（413）包括抵座（131）、滑道（132）、活塞（133）、推盘（134）、外旋钮（135），所述抵座（131）连接在推盘（134）上，所述推盘（134）连接在卡盘（414）上，且连接在有滑道（132），所述滑道（132）与活塞（133）过渡配合在斜板（123）上，所述活塞（133）两侧均设置有外旋钮（135）。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：所述外旋钮（135）包括叠片（5a1）、疏通道（5a2）、弹板（5a3）、控制叶（5a4）、收合夹（5a5），所述叠片（5a1）连接在控制叶（5a4）一侧，所述控制叶（5a4）另一侧通过收合夹（5a5）活动卡合在抵座（131）上，且两侧连接有弹板（5a3），所述弹板（5a3）上连接有疏通道（5a2）。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路输入端测试装置，其特征在于：所述收合夹（5a5）包括攀杆（a51）、铰链（a52）、定位件（a53）、撑卡（a54），所述攀杆（a51）两端均连接在定位件（a53）上，所述定位件（a53）上连接有铰链（a52），所述铰链（a52）间接配合在控制叶（5a4）和撑卡（a54）之间。