[发明专利]一种集成电路输入端测试装置

说明书

本发明公开了一种集成电路输入端测试装置，其结构包括基座、固位把、探针、承载台、对扣、弹簧，基座上连接有探针和弹簧，弹簧一端连接有对扣，对扣连接有固位把，固位把上设置有承载台，承载台包括助力组件、垫片、囊括节、护板，助力组件通过垫片与囊括节间接配合，垫片连接在固位把上，且两侧连接有护板，在助力组件上设置有挡把和复位结构，利用挡把和复位结构与抓手相配合，当探针末端被输入端卡紧锁压住时，将会与挡把相互牵扯，使之绷紧，抽动其底部的复位结构，为之提供循环复位的动能，保证探针能更好搭接进下一个输入端。

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别的，是一种集成电路输入端测试装置。

背景技术

集成电路中包括多个引脚，例如，输入引脚、输出引脚、双向引脚、和三态引脚等。在实际应用过程中，为了确保集成电路中各个引脚的正确性，需要对各个引脚进行测试；现有的集成电路输入端测试装置在与输入端搭接的探针与输入端发生相对运动时，探针末端将会被输入端卡紧锁压住，使得探针末端出现向下异常移动的情形，以致于探针位置之间相互交错无法并列排布，造成输入端难以顺畅地无缝搭接进下一个探针进行接触测试，会影响探针与输入端的接触效果。

发明内容

针对上述问题，本发明提供一种集成电路输入端测试装置，其结构包括基座、固位把、探针、承载台、对扣、弹簧，所述基座上连接有探针和弹簧，所述弹簧一端连接有对扣，所述对扣连接有固位把，所述固位把上设置有承载台，所述承载台包括助力组件、垫片、囊括节、护板，所述助力组件通过垫片与囊括节间接配合，所述垫片连接在固位把上，且两侧连接有护板。

作为本发明的进一步改进，所述助力组件包括竖框、挡把、复位结构、卡盘、抓手，所述竖框连接在垫片和卡盘上，所述卡盘上连接有抓手,且其内部设置有挡把和复位结构。

作为本发明的进一步改进，所述抓手通过挡把活动卡合在囊括节上，使得抓手与挡把之间产生一定的挤压互斥力，便于抓手紧贴在囊括节底部。

作为本发明的进一步改进，所述挡把包括磨合层、通腔、斜板、托筋，所述托筋连接在磨合层上，且其上方连接有抓手，所述磨合层连接在斜板上，所述斜板之间开设有通腔，所述通腔与复位结构间接配合。

作为本发明的进一步改进，所述通腔与复位结构间接配合，在其内部的气体输出后，不易出现反流现象，高效内部产生负压，推动下一进程的发生。

作为本发明的进一步改进，所述复位结构包括抵座、滑道、活塞、推盘、外旋钮，所述抵座连接在推盘上，所述推盘连接在卡盘上，且连接在有滑道，所述滑道与活塞过渡配合在斜板上，所述活塞两侧均设置有外旋钮。

作为本发明的进一步改进，所述外旋钮包括叠片、疏通道、弹板、控制叶、收合夹，所述叠片连接在控制叶一侧，所述控制叶另一侧通过收合夹活动卡合在抵座上，且两侧连接有弹板，所述弹板上连接有疏通道。

作为本发明的进一步改进，所述收合夹包括攀杆、铰链、定位件、撑卡，所述攀杆两端均连接在定位件上，所述定位件上连接有铰链，所述铰链间接配合在控制叶和撑卡之间。

有益效果

与现有技术相比，本发明的有益效果：

1、本发明在助力组件上设置有挡把和复位结构，利用挡把和复位结构与抓手相配合，当探针末端被输入端卡紧锁压住时，将会与挡把相互牵扯，使之绷紧，抽动其底部的复位结构，为之提供循环复位的动能，保证探针能更好搭接进下一个输入端。

2、本发明由于磨合层为百叶结构，在通腔产生负压时，将会使得该百叶结构被吸附转动朝向斜板，增加气流流通空间，有利于扩大负压自身的力度。

3、本发明通过控制叶能够快速控制叠片沿着滑道向下摆动，使得叠片顺利向下摆动，保证滑道内的活塞能处于强效制动的状态，有效保证了挡把有往复循环变形的能力。

附图说明