[发明专利]一种免电沉积技术的金属离子溶出伏安检测新方法在审
| 申请号： | 202110773889.7 | 申请日： | 2021-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN113418975A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 易银辉;朱刚兵 | 申请（专利权）人： | 江苏大学 |
| 主分类号： | G01N27/30 | 分类号： | G01N27/30;G01N27/48 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212013 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 沉积 技术 金属 离子 伏安 检测 新方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种免电沉积技术的金属离子溶出伏安检测新方法，其特征在于，包括如下步骤：
(1)将MXene基材料分散于溶剂中，超声均匀得悬浮液；
(2)移取步骤(1)所得的悬浮液滴加至电极表面，烘干，得到MXene基材料修饰电极；
(3)将重金属待测液的pH调节至5～7；
(4)将步骤(2)所得的MXene基材料修饰电极插入步骤(3)调节pH后的重金属待测液中，自还原富集1-30min后，采用脉冲伏安法进行浓度测定。
2.如权利要求1所述的免电沉积技术的金属离子溶出伏安检测新方法，其特征在于，步骤(1)中，所述MXene基材料与溶剂的质量比为1:500-1:3000。
3.如权利要求1所述的免电沉积技术的金属离子溶出伏安检测新方法，其特征在于，步骤(1)中，所述溶剂为水、乙醇或N,N-二甲基甲酰胺。
4.如权利要求1所述的免电沉积技术的金属离子溶出伏安检测新方法，其特征在于，步骤(2)中，所述电极表面MXene基材料的修饰量为10-60μg/cm2。
5.如权利要求1所述的免电沉积技术的金属离子溶出伏安检测新方法，其特征在于，步骤(2)中，所述电极为玻碳电极或丝网印刷电极。
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