[发明专利]一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统及标校方法在审
申请号: | 202110790030.7 | 申请日: | 2021-07-13 |
公开(公告)号: | CN113483663A | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 卓红艳 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01C15/00 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 于晶晶 |
地址: | 621900 四川省绵阳市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三维 尺寸 拼接 多阵面 测试 系统 校方 | ||
1.一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,包括控制点、激光全站仪和测向接收机,拼接的多个阵面形成被检测面,所述控制点取自拼接的阵面,且控制点处安装反射片,所述测向接收机位于被检测面的方向线上,所述激光全站仪架设于被检测面的对面,且控制点、测向接收机均位于激光全站仪的可视扫描范围内。
2.根据权利要求1所述的一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,每个阵面上均取多个控制点,且控制点与阵面整体加工而成。
3.根据权利要求2所述的一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,多个控制点之间的位置关系固定。
4.根据权利要求1所述的一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,所述测向接收机包括GPS仪器和360°棱镜,所述360°棱镜用于接收激光全站仪发出的信号并向激光全站仪反射,且GPS仪器和360°棱镜集成为一体式结构。
5.根据权利要求4所述的一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,所述测向接收机设有三个,分别为第一测向接收机、第二测向接收机和第三测向接收机,其中,第一测向接收机、第二测向接收机作为移动站并位于被检测面的方向线上,第三测向接收机作为基准站并位于激光全站仪的相对面。
6.根据权利要求5所述的一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,所述第一测向接收机、第二测向接收机和第三测向接收机采用星站差分工作模式。
7.根据权利要求6所述的一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,所述基准站和移动站采用CORS站的作业模式,当移动站连接到基准站的电台时,移动站手簿显示测量值处于固定中,基准站和移动站设置完成。
8.根据权利要求1-7任一所述的一种三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统,其特征在于,所述激光全站仪安装于全站仪测点,用于瞄准控制点、测向接收机,获取坐标并进行角度与距离的测量,采用后方交会方法计算所述全站仪测点的坐标。
9.一种采用如权利要求8所述的三维大尺寸拼接多阵面测试标校系统的标校方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1:架设激光全站仪和测向接收机,在拼接的阵面上选取控制点,并贴上反射片;
步骤S2:测向接收机开始接收数据,数据结果收敛并提取移动站的坐标;
步骤S3:激光全站仪对基准站、移动站进行测量获得角度值和距离值,并引入基准站、移动站的坐标,计算全站仪测点的坐标;
步骤S4:激光全站仪对同一阵面的反射片进行距离、角度测量,拟合所述阵面的平面向量,并计算控制点坐标;
步骤S5:重复步骤S4,完成所有拼接的阵面的测量,设定所有拼接阵面的其一阵面为基准平面,计算得到其他的阵面与基准平面的补偿值,完成阵面测试标校。
10.根据权利要求9所述的标校方法,其特征在于,在步骤S1中,在被检测面的对面架设激光全站仪,在被检测面方向线上架设两个测向接收机,在被检测面的另一对面架设一个测向接收机。
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