[发明专利]测量设备

权利要求书

1.一种测量设备，其特征在于，包括：

第一端，所述第一端用于耦合到被测电路以接收表示到所述被测电路的输入信号的第一信号；

第二端，所述第二端用于耦合到所述被测电路以接收表示来自所述被测电路的输出的第二信号；

第一分相器，所述第一分相器被配置成基于在所述第一分相器的输入处提供的信号生成第一相位信号I1和第一正交信号Q1，所述第一正交信号与所述第一相位信号正交；

第二分相器，所述第二分相器被配置成基于在所述第二分相器的输入处提供的信号生成第二相位信号I2和第二正交信号Q2，所述第二正交信号与所述第二相位信号正交；

第一复用器，所述第一复用器耦合到所述第一端和所述第二端，且被配置成在所述第一复用器的第一模式下将所述第一信号传递到所述第一分相器的所述输入，并且在所述第一复用器的第二模式下将所述第二信号传递到所述第一分相器的所述输入；

第二复用器，所述第二复用器耦合到所述第一端和所述第二端，且被配置成在所述第二复用器的第一模式下将所述第二信号传递到所述第二分相器的所述输入，并且在所述第二复用器的第二模式下将所述第一信号传递到所述第二分相器的所述输入；

双正交混频器，所述双正交混频器具有被配置成接收所述第一相位信号I1、所述第一正交信号Q1、所述第二相位信号I2和所述第二正交信号Q2的四个输入，和输出；以及

计算单元，所述计算单元被配置成接收所述双正交混频器的所述输出，所述输出包括一对信号，并且计算单元确定以下一个或两个：

a)基于所述第一复用器处于所述第一模式和所述第二复用器处于所述第一模式时所述双正交混频器的所述输出处的所述一对信号，且基于所述第一复用器处于所述第二模式和所述第二复用器处于所述第二模式时所述输出处的所述一对信号，确定所述被测电路的相移

b)基于所述第一复用器处于所述第一模式和所述第二复用器处于所述第二模式时所述双正交混频器的所述输出以及所述第一复用器处于所述第二模式和所述第二复用器处于所述第一模式时所述双正交混频器的所述输出，确定所述被测电路的增益，所述增益包括所述第二信号的振幅B与所述第一信号的振幅A的比值。

2.根据权利要求1所述的测量设备，其特征在于，为了确定所述被测电路的所述相移，所述计算单元被配置成基于所述第一复用器处于所述第一模式和所述第二复用器处于所述第一模式时所述输出处的所述一对信号，确定以下内容：

I1.I2+Q1.Q2的第一平均值M1；以及

I1.Q2-I2.Q1的第二平均值M2；并且

所述计算单元被配置成基于所述第一复用器处于所述第二模式和所述第二复用器处于所述第二模式时所述输出处的所述一对信号，确定以下内容：

I1.I2+Q1.Q2的第三平均值M3；

I1.Q2-I2.Q1的第四平均值M4；

其中所述被测电路的所述相移由下式给出：

3.根据权利要求2所述的测量设备，其特征在于，为了确定所述被测电路的所述相移，所述计算单元被配置成确定以下内容：

基于所述双正交混频器的所述输出确定参考平均值M0，其中所述测量设备被配置成使得以下之一：到所述双正交混频器的所述输入从所述第一分相器和所述第二分相器断开，或者所述第一信号和所述第二信号被设置为零；并且

其中所述被测电路的所述相移包括：

4.根据权利要求1至3中的任一项权利要求所述的测量设备，其特征在于，所述计算单元被配置成确定以下平均值以确定所述被测电路的所述增益：

在所述双正交混频器的所述输出处提供的所述一对信号中包括I1.I2+Q1.Q2的一个信号的第五平均值M5，其中所述第一复用器处于所述第一模式且所述第二复用器处于所述第二模式；

在所述双正交混频器的所述输出处提供的所述一对信号中包括I1.I2+Q1.Q2的一个信号的第六平均值M6，其中所述第一复用器处于所述第二模式且所述第二复用器处于所述第一模式；并且

其中所述增益包括：