[发明专利]测量设备

说明书

一种测量设备包括接收被测电路的输入信号的第一端；接收所述被测电路的输出信号的第二端。第一分相器和第二分相器被配置成生成第一相位信号I1和第二相位信号I2以及第一正交信号Q1和第二正交信号Q2。第一复用器和第二复用器各自耦合到所述第一端和所述第二端，且被配置成交替地将所述被测电路的所述输入信号和所述输出信号传递到所述第一分相器和所述第二分相器的输入。双正交混频器具有被配置成接收I1、Q1、I2和Q2的四个输入，和输出。计算单元基于所述双正交混频器的所述输出确定所述被测电路的相移和/或所述被测电路的增益中的一个或两个。

技术领域

本公开涉及一种测量设备。所述测量设备可用于测试RF信号处理电路的领域。具体地，本公开涉及一种用于确定由被测电路引入的相移和/或增益的测量设备。

背景技术

在RF信号处理中，电路可被配置成改变信号的振幅，其中这种电路可被称为“放大器”。此外，电路可被配置成改变信号的相位，其中这种电路可被称为“相位旋转器”、“移相器”或“延迟电路”。这些电路可以形成为通常被称为射频集成电路(RFIC)的集成电路。

由于这些电路的生产过程中(例如在RFIC中)的可变性，这种放大器和相位旋转器可能出现生产公差。因此，并不能确切地知晓这些块的增益和/或相位。

发明内容

根据本公开的第一方面，提供一种测量设备，包括：

第一端，所述第一端用于耦合到被测电路以接收表示到所述被测电路的输入信号的第一信号；

第二端，所述第二端用于耦合到所述被测电路以接收表示来自所述被测电路的输出的第二信号；

第一分相器，所述第一分相器被配置成基于在所述第一分相器的输入处提供的信号生成第一相位信号I1和第一正交信号Q1，所述第一正交信号与所述第一相位信号正交；

第二分相器，所述第二分相器被配置成基于在所述第二分相器的输入处提供的信号生成第二相位信号I2和第二正交信号Q2，所述第二正交信号与所述第二相位信号正交；

第一复用器，所述第一复用器耦合到所述第一端和所述第二端，且被配置成在所述第一复用器的第一模式下将所述第一信号传递到所述第一分相器的所述输入，并且在所述第一复用器的第二模式下将所述第二信号传递到所述第一分相器的所述输入；

第二复用器，所述第二复用器耦合到所述第一端和所述第二端，且被配置成在所述第二复用器的第一模式下将所述第二信号传递到所述第二分相器的所述输入，并且在所述第二复用器的第二模式下将所述第一信号传递到所述第二分相器的所述输入；

双正交混频器，所述双正交混频器具有被配置成接收所述第一相位信号I1、所述第一正交信号Q1、所述第二相位信号I2和所述第二正交信号Q2的四个输入，和输出；以及

计算单元，所述计算单元被配置成接收所述双正交混频器的所述输出，所述输出包括一对信号，并且计算单元确定以下一个或两个：

a)基于所述第一复用器处于所述第一模式和所述第二复用器处于所述第一模式时所述双正交混频器的所述输出处的所述一对信号，且基于所述第一复用器处于所述第二模式和所述第二复用器处于所述第二模式时所述输出处的所述一对信号，确定所述被测电路的相移

b)基于所述第一复用器处于所述第一模式和所述第二复用器处于所述第二模式时所述双正交混频器的所述输出以及所述第一复用器处于所述第二模式和所述第二复用器处于所述第一模式时所述双正交混频器的所述输出，确定所述被测电路的增益，所述增益包括所述第二信号的振幅B与所述第一信号的振幅A的比值。

在一个或多个例子中所述一对信号包括：

(i)I1.I2+Q1.Q2；以及

(ii)I1.Q2-I2.Q1。