[发明专利]一种去除图像伪影的方法、装置及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202110804274.6 申请日: 2021-07-16
公开(公告)号: CN115701131A 公开(公告)日: 2023-02-07
发明(设计)人: 焦文菲;王朋;曾纪琛 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司;北京小米松果电子有限公司
主分类号: H04N25/57 分类号: H04N25/57;H04N23/951;H04N23/741;H04N25/61
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 白莹
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 去除 图像 方法 装置 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种去除图像伪影的方法,其特征在于,包括:

获取摄像头采集的N个长曝光图像;所述N个长曝光图像包括一个参考帧图像以及N-1个非参考帧图像;

根据所述摄像头的噪声方差系数和所述N个长曝光图像计算每个非参考帧图像中各像素点的位于伪影区域的概率;

根据每个非参考帧图像中各像素点的位于伪影区域的概率计算相应非参考帧图像中相应像素点的权重;

根据所述N-1非参考帧图像中每个像素点的权重合成所述N个长曝光图像的加权图像。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述根据所述摄像头的噪声方差系数和所述N个长曝光图像计算每个非参考帧图像中各像素点位于伪影区域的概率,包括:

根据所述摄像头的噪声方差系数和每个非参考帧图像确定每个非参考帧图像对应的噪声表征图;

根据所述噪声表征图和所述参考帧图像计算每个非参考帧图像中各像素点位于伪影区域的概率。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,

所述根据所述噪声表征图和所述参考帧图像计算每个非参考帧图像中各像素点位于伪影区域的概率,包括:

确定每个非参考帧图像与所述参考帧图像的差距图;

根据所述噪声表征图和所述差距图,计算每个非参考帧图像中每个像素点位于伪影区域的概率。

4.如权利要求2或3所述的方法,其特征在于,

所述根据所述摄像头的噪声方差系数和每个非参考帧图像确定每个非参考帧图像对应的噪声表征图,包括:

根据每个非参考帧图像中像素点的灰度值和所述噪声方差系数,确定噪声表征图中相应像素点的值。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,

所述噪声方差系数包括第一系数和第二系数;

所述根据每个非参考帧图像中像素点的灰度值和所述噪声方差系数,确定噪声表征图中相应像素点的值,包括:

计算非参考帧图像中像素点的灰度值与所述第一系数的乘积,以及所述乘积与所述第二系数的和;

将所述和作为所述噪声表征图中相应像素点的值。

6.如权利要求3所述的方法,其特征在于,

所述根据所述噪声表征图和所述差距图,计算所述非参考帧图像中每个像素点位于伪影区域的概率,包括:

将所述噪声表征图和所述差距图中同一像素点对应的值输入概率密度函数,将所述概率密度函数的输出值作为所述非参考帧图像中相应像素点位于伪影区域的概率。

7.如权利要求3所述的方法,其特征在于,

所述根据所述噪声表征图和所述差距图,计算所述非参考帧图像中每个像素点位于伪影区域的概率,还包括:

将所述噪声表征图和所述差距图中同一像素点对应的值输入概率密度函数,确定所述概率密度函数的输出值;

在所述输出值大于或等于预设概率时,将所述输出值与一调节值的差作为所述非参考帧图像中相应像素点位于伪影区域的概率;

在所述输出值小于预设概率时,将所述输出值与一调节值的和作为所述非参考帧图像中相应像素点位于伪影区域的概率;

其中,所述调节值与所述摄像头的成像质量呈负相关。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

每个非参考帧图像中各像素点的位于伪影区域的概率与相应非参考帧图像中相应像素点的权重呈负相关。

9.一种去除图像伪影的装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于获取摄像头采集的N个长曝光图像;所述N个长曝光图像包括一个参考帧图像以及N-1个非参考帧图像;

第一计算模块,用于根据所述摄像头的噪声方差系数和所述N个长曝光图像计算每个非参考帧图像中各像素点的位于伪影区域的概率;

第二计算模块,用于根据每个非参考帧图像中各像素点的位于伪影区域的概率计算相应非参考帧图像中相应像素点的权重;

合成模块,用于根据所述N-1非参考帧图像中每个像素点的权重合成所述N个长曝光图像的加权图像。

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