[发明专利]膜片瑕疵检测方法、系统及存储介质

权利要求书

1.膜片瑕疵检测方法，其特征在于，由膜片检测机构执行，包括：

获取膜片的图像，以得到膜片检测图像；

对所述膜片检测图像进行预处理，以得到预处理图像；

根据所述预处理图像和预设瑕疵检测模型得到瑕疵预测结果；

若所述瑕疵预测结果为不合格，对所述瑕疵预测结果和多个预设瑕疵进行分析比对，以得到膜片瑕疵类型。

2.根据权利要求1所述的膜片瑕疵检测方法，其特征在于，所述预设瑕疵检测模型由以下步骤得到：

对预设采集的多个训练样品进行特征提取，以得到多个样品特征；

对所述多个样品特征以卷积神经网络模型进行特征训练，以得到所述预设瑕疵检测模型。

3.根据权利要求1所述的膜片瑕疵检测方法，其特征在于，所述膜片检测图像包括：第一膜片检测图像和第二膜片检测图像；

所述获取膜片图像，以得到膜片检测图像，包括：

获取所述膜片的正面图像，以得到所述第一膜片检测图像；

获取所述膜片的反面图像，以得到所述第二膜片检测图像。

4.根据权利要求3所述的膜片瑕疵检测方法，其特征在于，所述瑕疵预测结果包括：第一瑕疵预测结果和第二瑕疵预测结果，其中，所述第一瑕疵预测结果与所述第一膜片检测图像的瑕疵预测结果对应，所述第二瑕疵预测结果与所述第二膜片检测图像的瑕疵预测结果对应；

所述对所述瑕疵预测结果和多个预设瑕疵进行分析比对，以得到膜片瑕疵类型，包括：

对所述第一瑕疵预测结果、所述第二瑕疵预测结果和所述多个预设瑕疵进行分析比对，以得到所述膜片瑕疵类型。

5.根据权利要求1所述的膜片瑕疵检测方法，其特征在于，所述膜片瑕疵检测方法还包括：

若所述瑕疵预测结果为不合格，输出与所述不合格对应的报警信息，并输出停机指令，以使所述膜片检测机构停止工作。

6.根据权利要求1所述的膜片瑕疵检测方法，其特征在于，所述预处理包括：

图像切割、图像灰度变换。

7.膜片瑕疵检测系统，其特征在于，包括膜片检测机构，所述膜片检测机构包括：

获取模块，所述获取模块用于获取膜片图像，以得到膜片检测图像；

处理模块，所述处理模块用于对所述膜片检测图像进行预处理，以得到预处理图像；

所述处理模块还用于根据所述预处理图像和预设瑕疵检测模型得到瑕疵预测结果；

判断模块，所述判断模块用于判断所述瑕疵预测结果并输出判断结果；

分析比对模块，所述分析比对模块用于当所述判断结果为不合格，对所述瑕疵预测结果和多个预设瑕疵进行分析比对，以得到膜片瑕疵类型。

8.根据权利要求7所述的膜片瑕疵检测系统，其特征在于，所述膜片瑕疵检测系统还包括：

固定传送机构，所述固定传送机构用于固定待检测膜片，并将所述待检测膜片传送；

第一摄像机构，所述第一摄像机构用于对所述待检测膜片的正面拍照，以得到膜片正面图像；

第二摄像机构，所述第二摄像机构用于对所述待检测膜片的反面拍照，以得到膜片反面图像。

9.根据权利要求7所述的膜片瑕疵检测系统，其特征在于，所述膜片瑕疵检测系统还包括：

显示机构，所述显示机构用于显示所述瑕疵预测结果。

10.计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至6中任意一项所述的膜片瑕疵检测方法。