[发明专利]标记点选取位置的验证方法、装置、终端设备和存储介质

权利要求书

1.一种标记点选取位置的验证方法，其特征在于，包括：

获取目标物体上除多个指定标记点之外的目标标记点的位置坐标；

将所述目标标记点的位置坐标添加至第一坐标集合中，得到第二坐标集合，所述第一坐标集合是按照第一坐标变换参数对预采集的物体坐标集合执行坐标变换处理后得到的坐标集合，所述物体坐标集合包含所述目标物体上所述多个指定标记点的位置坐标；

按照所述第一坐标变换参数对所述第二坐标集合执行坐标变换处理，得到第三坐标集合；

根据所述第三坐标集合和预采集的模型坐标集合计算得到目标误差参数，所述模型坐标集合包含所述目标物体的三维模型上与所述多个指定标记点对应的位置坐标，所述目标误差参数用于衡量所述第三坐标集合包含的位置坐标与所述模型坐标集合包含的位置坐标之间的偏差程度；

若所述目标误差参数小于基准误差参数，则判定所述目标标记点通过验证，所述基准误差参数用于衡量所述第一坐标集合包含的位置坐标与所述模型坐标集合包含的位置坐标之间的偏差程度；

若所述目标误差参数大于或等于所述基准误差参数，则判定所述目标标记点未通过验证。

2.如权利要求1所述的验证方法，其特征在于，所述多个指定标记点中包含一个基准标记点，所述第一坐标变换参数根据以下方式计算得到：

根据所述物体坐标集合和所述模型坐标集合，计算得到第一旋转变换参数和第一平移向量，所述物体坐标集合包含的位置坐标在经过所述第一旋转变换参数和所述第一平移向量的处理后，得到的位置坐标与所述模型坐标集合包含的位置坐标之间的欧氏距离最短；

计算所述物体坐标集合包含的所述基准标记点的位置坐标在经过所述第一旋转变换参数和所述第一平移向量的处理后，得到的位置坐标与所述模型坐标集合包含的与所述基准标记点对应的位置坐标之间的差值；

将所述第一旋转变换参数和第二平移向量确定为所述第一坐标变换参数，所述第二平移向量为所述第一平移向量与所述差值之和。

3.如权利要求2所述的验证方法，其特征在于，所述基准误差参数根据以下方式计算得到：

计算所述模型坐标集合中除与所述基准标记点对应的位置坐标之外的其它位置坐标的第一中心点坐标；

计算所述第一坐标集合中除与所述基准标记点对应的位置坐标之外的其它位置坐标的第二中心点坐标；

计算所述第一中心点坐标与所述基准标记点的位置坐标之差，得到第一基准点偏差向量；

计算所述第二中心点坐标与所述基准标记点的位置坐标之差，得到第二基准点偏差向量；

根据所述第一基准点偏差向量和所述第二基准点偏差向量，计算得到第一误差旋转角度和第一误差平移向量，以所述基准标记点为基准，所述第二中心点坐标与所述第一中心点坐标之间的误差等效于以所述第一基准点偏差向量和所述第二基准点偏差向量所处平面的第一法向量为轴旋转所述第一误差旋转角度后，再按照所述第一误差平移向量平移；

将所述第一误差旋转角度和所述第一误差平移向量确定为所述基准误差参数。

4.如权利要求3所述的验证方法，其特征在于，根据所述第三坐标集合和预采集的模型坐标集合计算得到目标误差参数，包括：

计算所述第三坐标集合中除与所述基准标记点对应的位置坐标之外的其它位置坐标的第三中心点坐标；

计算所述第三中心点坐标与所述基准标记点的位置坐标之差，得到第三基准点偏差向量；

根据所述第一基准点偏差向量和所述第三基准点偏差向量，计算得到第二误差旋转角度和第二误差平移向量，以所述基准标记点为基准，所述第三中心点坐标与所述第一中心点坐标之间的误差等效于以所述第一基准点偏差向量和所述第三基准点偏差向量所处平面的第二法向量为轴旋转所述第二误差旋转角度后，再按照所述第二误差平移向量平移；

将所述第二误差旋转角度和所述第二误差平移向量确定为所述目标误差参数。