[发明专利]受电弓检测方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110806012.3 申请日: 2021-07-16
公开(公告)号: CN113469994A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 王凯;金博伟;支洪平;郑伟伟;王晓云;高少丹;李小兵;吴军军 申请(专利权)人: 科大讯飞(苏州)科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/70;G06N3/04
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 张雅娜
地址: 215021 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 受电弓 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种受电弓检测方法,其特征在于,包括:

获取待检测的受电弓图像;

基于级联网络,对所述受电弓图像进行目标检测,得到所述受电弓图像中受电弓的位姿信息,所述级联网络包括多个级联的目标检测模型,各目标检测模型均为适配受电弓形状的多层卷积结构。

2.根据权利要求1所述的受电弓检测方法,其特征在于,所述多层卷积结构包括多个级联的卷积层;

各卷积层中卷积核的高小于等于宽,和/或,各卷积层中滑动窗口的高小于等于宽。

3.根据权利要求1所述的受电弓检测方法,其特征在于,所述级联网络包括第一目标检测模型和第二目标检测模型;

所述基于所述级联网络,对所述受电弓图像进行目标检测,得到所述受电弓图像中受电弓的位姿信息,包括:

基于所述第一目标检测模型,对所述受电弓图像进行目标检测,得到所述受电弓图像中的受电弓候选区域图像;

基于所述第二目标检测模型,对所述受电弓候选区域图像进行目标检测,得到所述受电弓候选区域图像中受电弓的位姿信息。

4.根据权利要求3所述的受电弓检测方法,其特征在于,所述第一目标检测模型的多层卷积结构的末端卷积层包括第一检测分类分支和第一框回归分支;

所述第一检测分类分支用于检测所述受电弓图像中是否包含受电弓,所述第一框回归分支用于定位所述受电弓图像中的受电弓候选区域图像。

5.根据权利要求3所述的受电弓检测方法,其特征在于,所述第二目标检测模型的多层卷积结构的末端卷积层包括第二检测分类分支、第二框回归分支和位姿检测分支;

所述第二检测分类分支用于检测所述受电弓候选区域图像中是否包含受电弓,所述第二框回归分支用于定位所述受电弓候选区域图像中的受电弓区域,所述位姿检测分支用于检测所述受电弓候选区域图像中受电弓的位姿信息。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的受电弓检测方法,其特征在于,所述级联网络是基于多尺度的样本受电弓图像及其样本位姿信息训练得到的。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的受电弓检测方法,其特征在于,所述位姿信息包括受电弓倾斜角度和/或受电弓关键点位置。

8.一种受电弓检测装置,其特征在于,包括:

图像获取单元,用于获取待检测的受电弓图像;

目标检测单元,用于基于级联网络,对所述受电弓图像进行目标检测,得到所述受电弓图像中受电弓的位姿信息,所述级联网络包括多个级联的目标检测模型,各目标检测模型均为适配受电弓形状的多层卷积结构。

9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述的受电弓检测方法的步骤。

10.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的受电弓检测方法的步骤。

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