[发明专利]一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统

权利要求书

1.一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，包括底座(1)，所述底座(1)的上端设置有夹持机构(2)，所述夹持机构(2)的上端设置有等径机构(3)；

所述夹持机构(2)包括固定块(21)，所述固定块(21)固定连接在底座(1)的上表面中心处，所述固定块(21)的表面上通过轴承(22)转动连接有转杆(23)，所述转杆(23)的两端表面上均开设有螺纹(24)，两个所述螺纹(24)分别螺纹连接在两个螺孔(25)内部，两个所述螺孔(25)分别开设在两个弧板(26)的表面上，两个所述弧板(26)的下端与底座(1)接触，所述转杆(23)的一端固定连接有转钮(27)，所述固定块(21)的上端固定连接有支撑板(28)，两个所述弧板(26)的内部卡接有生长管(29)；

所述等径机构(3)包括圆杆(31)，所述圆杆(31)固定连接在支撑板(28)的中心处，所述圆杆(31)的上端插接在圆孔(32)内部，所述圆孔(32)开设在检测环(33)的内部，所述检测环(33)的外圆侧壁上开设有多个插槽(34)，多个所述插槽(34)的内部均固定连接有动态压力感应器(35)，多个所述动态压力感应器(35)的另一端均固定连接有插块(36)。

2.根据权利要求1所述的一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，其特征在于：所述所述固定块(21)固定连接在支撑板(28)的下表面中心处。

3.根据权利要求1所述的一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，其特征在于：两个所述弧板(26)对称设置在固定块(21)的两端。

4.根据权利要求1所述的一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，其特征在于：所述支撑板(28)与两个弧板(26)交错的两端与生长管(29)的下表面接触。

5.根据权利要求1所述的一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，其特征在于：所述插块(36)靠近生长管(29)的一端下表面上开设有弧面。

6.根据权利要求1所述的一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，其特征在于：所述所述插块(36)靠近生长管(29)的一端与生长管(29)的内壁相匹配。