[发明专利]一种光模块快速调试方法、装置及系统

权利要求书

1.一种光模块快速调试方法，其特征在于：包括如下步骤：

测试获得光模块的TOSA的PIV曲线以及ROSA的响应度；

根据PIV曲线计算出达到相应发射功率的偏置电流，然后写入到光模块内；

根据PIV曲线计算达到相应消光比所需调制电流，然后写入到光模块内；

根据PIV曲线及发射采样电阻计算发射校准系数，然后写入到光模块内；

根据ROSA的响应度以及接收采样电阻计算接收校准系数，写入到光模块内；

根据PIV曲线及发射采样电阻计算发射校准系数，具体包括：设定发射校准系数为a1、b1，则有y＝a1*x+b1，方程中y为发射功率，x为AD值，根据发射功率计算背光电流，根据背光电流计算采样电压，根据采样电压计算采样AD值，当取发射功率分别为Y1、Y2时，计算出的采样AD值分别为X1、X2，将发射功率Y1、Y2以及采样AD值X1、X2对应带入公式y＝a1*x+b1中解方程，即可计算出发射校准系数a1、b1；

根据发射功率计算背光电流，具体包括：根据PIV曲线得到背光斜率Im、发光斜率Ipo，根据公式po＝(Ibias-Ith)*Ipo、Ipd＝(Ibias-Ith)*Im以及k*Im＝Ipo，得到po＝k*Ipd，其中，Ibias为偏置电流，Ith为阈值电流Ith，Ipo为发光斜率，po为发射功率，Ipd为背光电流，Im为背光斜率；已知发射功率po，根据公式po＝k*Ipd即可计算出背光电流Ipd，k为Ipo/Im的比值；

根据背光电流计算采样电压，具体包括：已知背光电流，根据公式采样电压＝背光电流*发射采样电阻，即可计算出采样电压；

根据采样电压计算采样AD值，具体包括：已知采样电压，根据公式采样AD值＝采样电压/AD精度，即可计算出采样AD值；

根据ROSA的响应度以及接收采样电阻计算接收校准系数，具体包括：设定接收校准系数为a2、b2，则有y＝a2*x+b2，方程中y为接收光功率，x为AD值，根据接收光功率计算响应电流，根据响应电流计算采样电压，根据采样电压计算采样AD值，当取接收光功率分别为Y1、Y2时，计算出的采样AD值分别为X1、X2，将接收光功率Y1、Y2以及采样AD值X1、X2对应带入公式y＝a2*x+b2中解方程，即可计算出接收校准系数a2、b2；

根据接收光功率计算响应电流，具体包括：已知接收光功率，根据公式响应电流＝接收光功率*响应度，即可计算出响应电流；

根据响应电流计算采样电压，具体包括：已知响应电流，根据公式采样电压＝响应电流*接收采样电阻，即可计算出采样电压；

根据采样电压计算采样AD值，具体包括：已知采样电压，根据公式采样AD值＝采样电压/AD精度，即可计算出采样AD值。

2.如权利要求1所述的光模块快速调试方法，其特征在于：根据PIV曲线计算出达到相应发射功率的偏置电流，具体包括：根据PIV曲线得到阈值电流Ith、发光斜率Ipo，然后根据公式Po＝(Ibias-Ith)*Ipo计算出偏置电流Ibias，其中，po为发射功率。

3.如权利要求1所述的光模块快速调试方法，其特征在于：根据PIV曲线计算出达到相应功率的偏置电流后再计算出BIAS_DAC值，并将计算出的BIAS_DAC值写入到光模块的MCU。

4.如权利要求1所述的光模块快速调试方法，其特征在于：根据PIV曲线计算达到相应消光比所需调制电流，具体包括：根据PIV曲线得到发光斜率Ipo，然后根据公式计算出调制电流Imod，其中，ER为消光比。

5.如权利要求1所述的光模块快速调试方法，其特征在于：根据PIV曲线计算达到相应消光比所需调制电流后再计算出MOD_DAC值，并将计算出的MOD_DAC值写入到光模块的MCU。