[发明专利]一种光模块快速调试方法、装置及系统

说明书

本发明涉及一种光模块快速调试方法、装置及系统，包括如下步骤：测试获得光模块的TOSA的PIV曲线以及ROSA的响应度；根据PIV测试曲线计算出达到相应发射功率的偏置电流，然后写入到光模块内；根据PIV曲线计算达到相应消光比所需调制电流，然后写入到光模块内；根据PIV曲线及发射采样电阻计算发射校准系数，然后写入到光模块内；根据ROSA的响应度以及接收采样电阻计算接收校准系数，写入到光模块内。本发明通过有限的测试来直接推算出其他指标的测试结果，能节约设备成本同时还能有效提高测试效率。

技术领域

本发明属于光纤通信技术领域，具体涉及一种光模块快速调试方法、装置及系统。

背景技术

光模块在出厂、被安装到光纤通信系统之前，需要经过调试过程。光模块的调试过程在厂家的调试生产线上进行，主要是将出厂的光模块发射激光的光功率和消光比调试在一个合适的范围。

现有技术的调试方法由于需要采用较多的测试设备，对于批量生产和调试光模块的生成线，则需要投入较多的资金和成本，另外采用现有的调试方法，测试过程繁琐，测试效率低，因此，现有技术的光模块调试方法具有较高的成本以及较低的测试效率。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术之缺陷，提供了一种光模块快速调试方法、装置及系统，通过有限的测试来直接推算出其他指标的测试结果，能节约设备成本同时还能有效提高测试效率。

本发明的技术方案是这样实现的：本发明公开了一种光模块快速调试方法，包括如下步骤：

测试获得光模块的TOSA的PIV曲线以及ROSA的响应度；

根据PIV测试曲线计算出达到相应发射功率的偏置电流，然后写入到光模块内；

根据PIV曲线计算达到相应消光比所需调制电流，然后写入到光模块内；

根据PIV曲线及发射采样电阻计算发射校准系数，然后写入到光模块内；

根据ROSA的响应度以及接收采样电阻计算接收校准系数，写入到光模块内。

进一步地，根据PIV测试曲线计算出达到相应功率的偏置电流，具体包括：根据PIV曲线得到阈值电流Ith、发光斜率Ipo，然后根据公式Po＝(Ibias-Ith)*Ipo计算出偏置电流Ibias，其中，po为发射功率。

进一步地，根据PIV测试曲线计算出达到相应功率的偏置电流后再计算出BIAS_DAC值，并将计算出的BIAS_DAC值写入到光模块的MCU。

进一步地，根据PIV曲线计算达到相应消光比所需调制电流，具体包括：根据PIV曲线得到发光斜率Ipo，然后根据公式计算出调制电流Imod，其中，ER为消光比。

进一步地，根据PIV曲线计算达到相应消光比所需调制电流后再计算出MOD_DAC值，并将计算出的MOD_DAC值写入到光模块的MCU。

进一步地，根据PIV曲线及发射采样电阻计算发射校准系数，具体包括：设定发射校准系数为a1、b1，则有y＝a1*x+b1，方程中y为发射光功率，x为AD值，根据发射功率计算背光电流，根据背光电流计算采样电压，根据采样电压计算采样AD值，当取发射功率分别为Y1、Y2时，计算出的采样AD值分别为X1、X2，将发射功率Y1、Y2以及采样AD值X1、X2对应带入公式y＝a1*x+b1中解方程，即可计算出发射校准系数a1、b1；

根据发射功率计算背光电流，具体包括：根据PIV曲线得到背光斜率Im、发光斜率Ipo，根据公式Po＝(Ibias-Ith)*Ipo、Ipd＝(Ibias-Ith)*Im以及k*Im＝Ipo，得到po＝k*Ipd，其中，Ibias为偏置电流，Ith为阈值电流Ith，Ipo为发光斜率，po为发射功率，Ipd为背光电流，Im为背光斜率；已知发射功率po，根据公式po＝k*Ipd即可计算出背光电流Ipd；