[发明专利]介电响应测试方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种介电响应测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取介电响应预测模型；其中，所述介电响应预测模型为通过预设的神经网络模型对预处理曲线进行训练后所获得的模型，所述预处理曲线为预处理绝缘介质的频域介电谱曲线；

根据所述介电响应预测模型和待测绝缘介质的特征参数，获取所述待测绝缘介质的特征曲线；其中，所述特征曲线为所述待测绝缘介质的频域介电谱曲线，所述特征参数包括所述待测绝缘介质的材料类型、温度和老化程度中的至少一种；

根据所述特征曲线，获取所述待测绝缘介质的介电响应信息。

2.根据权利要求1所述的介电响应测试方法，其特征在于，获取介电响应预测模型的步骤之前，包括：

根据预设的测试方式对所述预处理绝缘介质进行测试，获取所述预处理曲线；其中，所述测试方式包括PDC测试法和FDS测试法中的至少一种；

利用所述神经网络模型对所述预处理曲线进行训练，生成所述介电响应预测模型。

3.根据权利要求2所述的介电响应测试方法，其特征在于，所述预处理曲线包括第一曲线和第二曲线中的至少一种；

根据预设的测试方式对所述预处理绝缘介质进行测试，获取所述预处理曲线的步骤，包括：

利用所述PDC测试法对所述预处理绝缘介质进行电流测试，并根据电流测试结果获取所述第一曲线；和/或，

利用所述FDS测试法对所述预处理绝缘介质进行频域介电测试，并根据频域介电测试结果获取所述第二曲线。

4.根据权利要求3所述的介电响应测试方法，其特征在于，所述预处理曲线包括第一曲线、第二曲线和第三曲线；

根据电流测试结果获取所述第一曲线的步骤中，所述第一曲线位于第一子频域内；其中，所述第一子频域对应的频率值小于预设频率；

根据频域介电测试结果获取所述第二曲线的步骤中，所述第二曲线位于第二子频域内；其中，所述第二子频域对应的频率值大于预设频率；

根据预设的测试方式对所述预处理绝缘介质进行测试，获取所述预处理曲线的步骤，还包括：

将所述第一曲线与所述第二曲线在所述预设频率处进行曲线拼接处理，获取所述第三曲线；

利用所述神经网络模型对所述预处理曲线进行训练的步骤，包括：

利用所述神经网络模型对所述第三曲线进行训练。

5.根据权利要求3或4所述的介电响应测试方法，其特征在于，利用所述PDC测试法对所述预处理绝缘介质进行电流测试，并根据电流测试结果获取所述第一曲线的步骤，包括：

根据所述PDC测试法对所述预处理绝缘介质进行电流测试，获取电流曲线；其中，所述电流测试包括极化电流测试和去极化电流测试中的至少一种，所述电流曲线包括所述预处理绝缘介质的极化电流曲线和去极化电流曲线中的至少一种；

根据所述电流曲线，获取所述第一曲线。

6.根据权利要求5所述的介电响应测试方法，其特征在于，根据所述电流曲线，获取所述第一曲线的步骤，包括：

根据所述极化电流曲线和所述去极化电流曲线，获取所述预处理绝缘介质的电导率；

根据所述去极化电流曲线和所述电导率，获取所述预处理绝缘介质的复极化率；

根据预设关系函数对所述复极化率进行计算，获取所述预处理绝缘介质的第一复介电常数；其中，所述关系函数用于表征所述预处理绝缘介质的复极化率与第一复介电常数之间的函数关系，所述第一复介电常数包括所述预处理绝缘介质的复介电常数中的实部和虚部中的至少一种；

根据所述第一复介电常数，生成所述预处理绝缘介质的第一复介电常数频谱曲线；

根据所述第一复介电常数频谱曲线，获取所述第一曲线。