[发明专利]介电响应测试方法、系统及存储介质

说明书

本申请涉及一种介电响应测试方法，包括：获取介电响应预测模型，其中，介电响应预测模型为通过预设的神经网络模型对预处理曲线进行训练后所获得的模型，预处理曲线为预处理绝缘介质的频域介电谱曲线；根据介电响应预测模型和待测绝缘介质的特征参数，获取待测绝缘介质的特征曲线，其中，特征曲线为待测绝缘介质的频域介电谱曲线，特征参数包括待测绝缘介质的材料类型、温度和老化程度中的至少一种；根据特征曲线，获取待测绝缘介质的介电响应信息。本申请还涉及应用上述介电响应测试方法的介电响应测试系统及存储介质。采用本发明提高了对绝缘介质的介电响应测试效率，且有利于节省资源。

技术领域

本申请涉及绝缘材料测试技术领域，特别是涉及一种介电响应测试方法、系统及存储介质。

背景技术

在绝缘纸、绝缘油等绝缘材料的绝缘状况的诊断和评估中，介电响应实验作为一种绝缘状况无损诊断方法，近年来逐渐被采用。通过介电响应实验可以获得绝缘材料在频域上的介电特性参数。

虽然目前的介电响应实验条件已经比较成熟，但是，为了了解特定类型的绝缘材料在特定条件(其中，条件包括温度条件、老化程度条件等)下的介电特性参数，依然需要在特定条件下对特定类型的绝缘材料专门进行一次介电响应实验，根据实验结果方能获取绝缘材料的介电特性参数，由于实验所需的时间较长，不仅使得介电响应测试效率低下，而且耗费较多的人力和较高的材料成本，浪费资源。

发明内容

基于此，有必要针对上述介电响应测试效率低下，且浪费资源的技术问题，提供一种介电响应测试方法、系统及存储介质。

本发明提供一种介电响应测试方法，所述方法包括：

获取介电响应预测模型；其中，所述介电响应预测模型为通过预设的神经网络模型对预处理曲线进行训练后所获得的模型，所述预处理曲线为预处理绝缘介质的频域介电谱曲线；

根据所述介电响应预测模型和待测绝缘介质的特征参数，获取所述待测绝缘介质的特征曲线；其中，所述特征曲线为所述待测绝缘介质的频域介电谱曲线，所述特征参数包括所述待测绝缘介质的材料类型、温度和老化程度中的至少一种；

根据所述特征曲线，获取所述待测绝缘介质的介电响应信息。

在其中一个实施例中，获取介电响应预测模型的步骤之前，包括：

根据预设的测试方式对所述预处理绝缘介质进行测试，获取所述预处理曲线；其中，所述测试方式包括PDC测试法和FDS测试法中的至少一种；

利用所述神经网络模型对所述预处理曲线进行训练，生成所述介电响应预测模型。

在其中一个实施例中，所述预处理曲线包括第一曲线和第二曲线中的至少一种；

根据预设的测试方式对所述预处理绝缘介质进行测试，获取所述预处理曲线的步骤，包括：

利用所述PDC测试法对所述预处理绝缘介质进行电流测试，并根据电流测试结果获取所述第一曲线；和/或，

利用所述FDS测试法对所述预处理绝缘介质进行频域介电测试，并根据频域介电测试结果获取所述第二曲线。

在其中一个实施例中，所述预处理曲线包括第一曲线、第二曲线和第三曲线；

根据电流测试结果获取所述第一曲线的步骤中，所述第一曲线位于第一子频域内；其中，所述第一子频域对应的频率值小于预设频率；

根据频域介电测试结果获取所述第二曲线的步骤中，所述第二曲线位于第二子频域内；其中，所述第二子频域对应的频率值大于预设频率；

根据预设的测试方式对所述预处理绝缘介质进行测试，获取所述预处理曲线的步骤，还包括：

将所述第一曲线与所述第二曲线在所述预设频率处进行曲线拼接处理，获取所述第三曲线；