[发明专利]齿轮加工参数筛选方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种齿轮加工参数筛选方法，其特征在于，所述齿轮加工参数筛选方法包括：

获取预设加工参数组；

对所述预设加工参数组进行单因素处理，获得反馈数据组；

基于所述反馈数据组，对所述预设加工参数组进行数据分析，获得最优加工参数，并根据所述最优加工参数进行齿轮加工。

2.如权利要求1所述的齿轮加工参数筛选方法，其特征在于，所述基于所述反馈数据组，对所述预设加工参数组进行数据分析，获得最优加工参数，并根据所述最优加工参数进行齿轮加工的步骤，包括：

基于所述反馈数据组，将所述预设加工参数组通过极差分析模型获得最优极差加工参数；

将所述预设加工参数组通过方差分析模型获得最优方差加工参数；

根据预设对比规则对所述最优极差加工参数与所述最优方差加工参数进行对比，获得最优加工参数，并根据所述最优加工参数进行齿轮加工。

3.如权利要求2所述的齿轮加工参数筛选方法，其特征在于，所述根据预设对比规则对所述最优极差加工参数与所述最优方差加工参数进行对比，获得最优加工参数，并根据所述最优加工参数进行齿轮加工的步骤之前，所述方法还包括：

根据所述最优极差加工参数进行单次试验，获得极差反馈数据；

根据所述最优方差加工参数进行单次试验，获得方差反馈数据；

基于所述极差反馈数据以及所述方差反馈数据确定预设对比规则。

4.如权利要求2所述的齿轮加工参数筛选方法，其特征在于，所述基于所述反馈数据组，将所述预设加工参数组通过极差分析模型获得最优极差加工参数的步骤，包括：

基于所述反馈数据组，获得单因素影响函数集；

根据预设权重分配集以及所述单因素影响函数集确定综合评判标准值；

根据所述综合评判标准值从预设加工参数组中筛选出最优加工参数。

5.如权利要求2所述的齿轮加工参数筛选方法，其特征在于，所述将所述预设加工参数组通过方差分析模型获得最优方差加工参数的步骤，包括：

基于所述反馈数据组，获得反馈数据统计量；

在所述反馈数据统计量大于预设水平值时，从预设加工参数组中筛选出最优方差加工参数。

6.如权利要求1-5任一项所述的齿轮加工参数筛选方法，其特征在于，所述对所述预设加工参数组进行单因素处理，获得反馈数据组的步骤，包括：

从所述预设加工参数组中提取预设激光参数组以及预设修正参数组；

基于所述预设激光参数组以及所述预设修正参数组生成正交参数表；

根据所述正交参数表进行单因素处理，获取反馈数据组。

7.如权利要求6所述的齿轮加工参数筛选方法，其特征在于，所述根据所述正交参数表进行单因素处理，获取反馈数据组的步骤之前，所述方法还包括：

建立三维模型；

根据所述三维模型进行动态聚焦，并确定定位点；

根据所述正交参数表进行单因素处理，获取反馈数据组，包括：

根据所述定位点和所述正交参数表进行单因素处理，获取反馈数据组。

8.一种齿轮加工参数筛选装置，其特征在于，所述齿轮加工参数筛选装置包括：

获取模块，用于获取预设加工参数组；

处理模块，用于对所述预设加工参数组进行单因素处理，获得反馈数据组；

加工模块，用于基于所述反馈数据组，对所述预设加工参数组进行数据分析，获得最优加工参数，并根据所述最优加工参数进行齿轮加工。

9.一种齿轮加工参数筛选设备，其特征在于，所述齿轮加工参数筛选设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的齿轮加工参数筛选程序，所述齿轮加工参数筛选程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的齿轮加工参数筛选方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有齿轮加工参数筛选程序，所述齿轮加工参数筛选程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的齿轮加工参数筛选方法。