[发明专利]清洁装置及半导体设备在审
申请号: | 202110819512.0 | 申请日: | 2021-07-20 |
公开(公告)号: | CN115639727A | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 李佳佳 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;B08B3/02;B08B1/00 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 杜娟娟 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洁 装置 半导体设备 | ||
1.一种清洁装置,其特征在于,用于对光栅尺进行清洁处理,包括:
喷淋装置,包括喷淋管道及喷淋物供给装置,所述喷淋物供给装置与所述喷淋管道相连接,用于向所述喷淋管道内提供喷淋物;所述喷淋管道上设有与所述喷淋管道内部相连通的喷口,所述喷口朝向所述光栅尺,用于向所述光栅尺喷淋所述喷淋物;
刷头清洁装置,位于所述光栅尺的正下方,用于对所述光栅尺进行清洁处理。
2.根据权利要求1所述的清洁装置,其特征在于,多个所述喷口间隔排列,且相邻的所述喷口的边缘之间的间距为1cm~2cm。
3.根据权利要求1所述的清洁装置,其特征在于,所述喷淋管道的长度大于或等于所述光栅尺的长度。
4.根据权利要求1所述的清洁装置,其特征在于,所述喷淋装置还包括加热模块,用于对所述喷淋物进行加热处理。
5.根据权利要求1所述的清洁装置,其特征在于,所述喷淋物包括压缩空气,所述喷淋物供给装置包括空气压缩机。
6.根据权利要求1所述的清洁装置,其特征在于,所述刷头清洁装置包括:
清洁刷头,用于对所述光栅尺进行清洁处理;
驱动装置,与所述清洁刷头相连接,用于驱动所述清洁刷头沿所述光栅尺的长度方向移动。
7.根据权利要求6所述的清洁装置,其特征在于,所述驱动装置包括:
滑槽,位于所述光栅尺的下方,且与所述光栅尺平行;
刷头固定板,位于所述滑槽上;所述刷头固定板内设置有第一电机及第二电机;所述第二电机用于驱动所述刷头固定板沿所述滑槽移动;
摇杆,所述摇杆的第一端与所述第一电机连接,所述摇杆的第二端与所述清洁刷头相连接,所述摇杆在所述第一电机驱动下带动所述清洁刷头旋转。
8.根据权利要求7所述的清洁装置,其特征在于,所述滑槽上设有齿轮条,所述第二电机上设有齿轮,所述齿轮与所述齿轮条相咬合。
9.根据权利要求8所述的清洁装置,其特征在于,所述齿轮条的长度大于或等于所述光栅尺的长度;所述清洁刷头的宽度大于或等于所述光栅尺的宽度。
10.一种半导体设备,其特征在于,包括:
横梁;
冷却管路,位于所述横梁上;
光栅尺,位于所述横梁下方;
如权利要求1至9任一项所述的清洁装置,位于所述横梁下方,且位于所述横梁与所述光栅尺之间;
漏液检测带,位于所述横梁与所述喷淋管道之间,用于检测所述横梁是否存在漏液,并判断漏液位置。
11.根据权利要求10所述的半导体设备,其特征在于,所述漏液检测带包括金属线、回路电阻及报警控制器;所述金属线与所述回路电阻电连接;所述报警控制器与所述回路电阻电连接。
12.根据权利要求10所述的半导体设备,其特征在于,所述漏液包括异丙醇及/或纯净水。
13.根据权利要求10所述的半导体设备,其特征在于,所述漏液检测带为多个,多个所述漏液检测带分别分布于所述横梁的多个不同区域。
14.根据权利要求10所述的半导体设备,其特征在于,所述半导体设备还包括漏液收集装置,位于所述漏液检测带与所述光栅尺之间。
15.根据权利要求14所述的半导体设备,其特征在于,所述漏测收集装置包括引流液槽、引流管、储液槽、排液管、排液控制装置及超声波探头,所述引流液槽位于所述漏液检测带与所述光栅尺之间;所述引流管的第一端与所述引流液槽连接,所述引流管的第二端置于所述储液槽内;所述超声波探头设置于所述储液槽的上方;所述排液管与厂务下水道相连接。
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