[发明专利]存储器修补线路确定方法及装置、存储介质及电子设备

说明书

本公开是关于一种存储器修补线路确定方法及装置、计算机可读存储介质及电子设备，该存储器修补线路确定方法包括：在正常区域的各线路中均写入第一预设数据组，在冗余区域的各线路中写入第二预设数据组，冗余区域的各线路中写入的第二预设数据组不同，第二预设数据组与第一预设数据组不同；使用冗余区域中的线路对正常区域中的线路进行修补；读取修补后的正常区域中各线路的数据；根据正常区域中各线路的数据、修补后的正常区域中各线路的数据或冗余区域中各线路的数据，确定正常区域中的被修补线路以及冗余区域中的去修补线路。本公开可以用于验证修补规则的准确性。

背景技术

随着存储器制作体积的不断缩小、存储容量的不断增加，存储器芯片在研制、生产和使用过程中产生的失效问题不可避免，通常可以采用冗余区域对存储器芯片中的失效位置进行修补处理。

现有技术，通常是根据特定的修补规则，分派冗余区域中的修补线路，以对失效位置进行修补。

验证修补规则被执行的准确性是芯片中的失效位置被顺利修补的前提。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种存储器修补线路确定方法及存储器修补线路确定装置、计算机可读存储介质及电子设备，用于验证修补规则的准确性。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提供一种存储器修补线路确定方法，所述方法包括：

在正常区域的各线路中均写入第一预设数据组，在冗余区域的各线路中写入第二预设数据组，所述冗余区域的各线路中写入的所述第二预设数据组不同，所述第二预设数据组与所述第一预设数据组不同；

使用所述冗余区域中的线路对所述正常区域中的线路进行修补；

读取修补后的所述正常区域中各线路的数据；

根据所述正常区域中各线路的数据、修补后的所述正常区域中各线路的数据或所述冗余区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路以及所述冗余区域中的去修补线路。

在一种可选的实施方式中，所述第一预设数据组为全0或全1的数据。

在一种可选的实施方式中，在所述正常区域的各线路中写入的所述第一预设数据组至少部分不同。

在一种可选的实施方式中，使用所述冗余区域中的线路对所述正常区域中的线路进行修补包括：

开启所述正常区域的修补功能。

在一种可选的实施方式中，所述方法还包括：

在正常区域的各线路中写入第一预设数据组之前，关闭所述正常区域的修补功能。

在一种可选的实施方式中，所述线路为列线路或行线路。

在一种可选的实施方式中，在所述线路为列线路时，所述第一预设数据组为第一预设数据列，所述第二预设数据组为第二预设数据列。

在一种可选的实施方式中，在所述线路为行线路时，所述第一预设数据组为第一预设数据行，所述第二预设数据组为第二预设数据行。

在一种可选的实施方式中，根据所述正常区域中各线路的数据、修补后的所述正常区域中各线路的数据或所述冗余区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路以及所述冗余区域中的去修补线路包括：

根据所述正常区域中各线路的数据和修补后的所述正常区域中各线路的数据，确定所述正常区域中的被修补线路；