[发明专利]红外图像非均匀性校正K系数的获取方法、设备及介质

权利要求书

1.一种红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，其特征在于，包括：

控制环境温度，预先标定各温度点下的低温黑体均匀面本底，并存贮在成像模组的存储单元中；

成像模组上电后，闭合快门片，获得当前环境温度下实时的高温均匀面本底；

同时在所述存储单元中搜索所述当前环境温度对应的所述低温黑体均匀面本底；

根据获得的所述高温均匀面本底和搜索的所述低温黑体均匀面本底，实时获取K值。

2.根据权利要求1所述的红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，其特征在于，所述控制环境温度，预先标定各温度点下的低温黑体均匀面本底，包括：

将环境温度控制在设定范围内，按照设定的温度间隔预先标定低温黑体均匀面本底。

3.根据权利要求2所述的红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，其特征在于，当所述设定范围为[T_L,T_H]时，所述设定的温度间隔为ΔT时，所述将环境温度控制在设定范围内，按照设定的温度间隔预先标定低温黑体均匀面本底，包括：

将环境温度控制在T_L温度点，并将黑体设定到相同的温度T_L，成像模组对准黑体，待成像模组在温度T_L下稳定后，将探测器输出的整帧原始像素值作为第一个低温黑体均匀面本底；

将环境温度升高至在T_L+ΔT温度点，并将黑体设定到相同的温度T_L+ΔT，成像模组对准黑体，待成像模组在温度T_L+ΔT下稳定后，将探测器输出的整帧原始像素值作为第二个低温黑体均匀面本底；

依次将环境温度升高至在T_L+2×ΔT、T_L+3×ΔT、…、T_L+m×ΔT温度点，并将黑体依次设定到相同的温度T_L+2×ΔT、T_L+3×ΔT、…、T_L+m×ΔT，成像模组对准黑体，待成像模组依次在温度T_L+2×ΔT、T_L+3×ΔT、…、T_L+m×ΔT下稳定后，将探测器依次输出的整帧原始像素值作为其余低温黑体均匀面本底；m为低温黑体均匀面本底的总个数。

4.根据权利要求3所述的红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，其特征在于，所述闭合快门片，获得当前环境温度下实时的高温均匀面本底，包括：

将快门片作为类黑体的高温均匀面，在闭合快门片后，获得当前红外焦平面对准所述快门片时探测器输出的整帧原始像素值作为当前环境温度下实时的高温均匀面本底。

5.根据权利要求4所述的红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，其特征在于，所述在所述存储单元中搜索所述当前环境温度对应的所述低温黑体均匀面本底，包括：

判断所述存储单元是否存贮所述当前环境温度下的所述低温黑体均匀面本底；

若是，则搜索所述当前环境温度下的所述低温黑体均匀面本底；

若否，则搜索温度小于所述当前环境温度的最近邻温度点下的所述低温黑体均匀面本底。

6.根据权利要求5所述的红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，其特征在于，采用第一公式和第二公式实时获取K值；所述第一公式和所述第二公式分别为：

其中，N为红外焦平面的像素总数，i为像素的编号，i＝{1,2,3,...,N}，为所述低温黑体均匀面本底，为所述高温均匀面本底，K_FPA为整个红外焦平面的期望K值，K_i为N个像素各自对应的K值。

7.根据权利要求6所述的红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，其特征在于，采用第三公式计算低温黑体均匀面本底的总个数；所述第三公式为：