[发明专利]红外图像非均匀性校正K系数的获取方法、设备及介质

说明书

本申请公开了一种红外图像非均匀性校正K系数的获取方法、设备及存储介质，该方法包括：控制环境温度，预先标定各温度点下的低温黑体均匀面本底，并存贮在成像模组的存储单元中；成像模组上电后，闭合快门片，获得当前环境温度下实时的高温均匀面本底；同时在存储单元中搜索当前环境温度对应的低温黑体均匀面本底；根据获得的高温均匀面本底和搜索的低温黑体均匀面本底，实时获取K值。本申请可以实时计算K值，在快门校正的时候更新当前环温更匹配的K值，解决了固定K值无法适应整个工作温区的问题，并且计算的实时K值与焦平面当前像素值更加匹配，使得非均匀性校正之后的图像更加均匀光滑。

技术领域

本发明涉及红外成像技术领域，特别是涉及一种红外图像非均匀性校正K系数的获取方法、设备及存储介质。

背景技术

在红外成像算法中，非均匀性校正(nonuniformity correction，简称NUC)方法为：y＝K×x+B；其中，x是红外探测器焦平面像素的原始值，B是修正焦平面的本底值，K是焦平面像素点的响应斜率的校正斜率，y是非均匀校正之后的均匀图像。

但是，目前由于红外探测器焦平面的每个像素点在不同的环温下的响应曲线的斜率K并不相同，非均匀校正中的某个温度点的固定K值无法适应整个工作温区。

因此，如何解决固定K值无法适应整个工作温区的问题，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种红外图像非均匀性校正K系数的获取方法、设备及存储介质，可以实时计算K值，在快门校正的时候更新当前环温更匹配的K值，使非均匀性校正之后的图像更加均匀光滑。其具体方案如下：

一种红外图像非均匀性校正K系数的获取方法，包括：

控制环境温度，预先标定各温度点下的低温黑体均匀面本底，并存贮在成像模组的存储单元中；

成像模组上电后，闭合快门片，获得当前环境温度下实时的高温均匀面本底；

同时在所述存储单元中搜索所述当前环境温度对应的所述低温黑体均匀面本底；

根据获得的所述高温均匀面本底和搜索的所述低温黑体均匀面本底，实时获取K值。

优选地，在本发明实施例提供的上述红外图像非均匀性校正K系数的获取方法中，所述控制环境温度，预先标定各温度点下的低温黑体均匀面本底，包括：

将环境温度控制在设定范围内，按照设定的温度间隔预先标定低温黑体均匀面本底。

优选地，在本发明实施例提供的上述红外图像非均匀性校正K系数的获取方法中，当所述设定范围为[T_L,T_H]时，所述设定的温度间隔为ΔT时，所述将环境温度控制在设定范围内，按照设定的温度间隔预先标定低温黑体均匀面本底，包括：

将环境温度控制在T_L温度点，并将黑体设定到相同的温度T_L，成像模组对准黑体，待成像模组在温度T_L下稳定后，将探测器输出的整帧原始像素值作为第一个低温黑体均匀面本底；

将环境温度升高至在T_L+ΔT温度点，并将黑体设定到相同的温度T_L+ΔT，成像模组对准黑体，待成像模组在温度T_L+ΔT下稳定后，将探测器输出的整帧原始像素值作为第二个低温黑体均匀面本底；